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  1211. Charakterisierung von HF-Zellen verschiedener Technologien unter Nutzung modularer PXI-Testsysteme  
B. Bieske, K. Gille 22nd ITG/GI/GMM Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  
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  1212. Entwurf und Einsatzerfahrungen eines flexibel konfigurierbaren PXI-Testsystems für on-wafer Messungen im Halbleiterbereich  
I. Gryl, G. Kropp R. Paris 22nd ITG/GI/GMM Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  
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  1213. Erhöhung der Testqualität für optoelektrische Schaltungen durch Charakterisierung des Strahlprofils  
M. Reinhard, M. Meister U. Liebold T. Cohrs Dr. D. Nuernbergk 22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  
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  1214. GALILEO - Regionale Initiativen in Deutschland & Konvergenz zur Identifikation  
Dr. W. Sinn, AMA-Wissenschaftsrat, 23.02.2010, Berlin  
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  1215. A New Low Voltage Bandgap Reference Topology  
M. Isikhan, T. Reich A. Richter E. Hennig International Conference on Electronics Circuits and Systems, 13.-16. Dezember, 2009, Hammamet, Tunesien  
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  1216. A Post-Layout Optimization Method With Automatic Device Type Selection for BiCMOS Analog Circuits  
T. Reich, B. Dimov Ch. Lang V. Boos E. Hennig International Conference on Electronics Circuits and Systems, 13.-16. Dezember, 2009, Hammamet, Tunesien  
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  1217. Verkehr und Logistik- Zukunftsprojekte für RFID  
W. Sinn, 3. Dresdner RFID-Symposium, 10. - 11. Dezember 2009, Dresden  
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  1218. Design infrastructure for Rapid Single Flux Quantum circuits  
H. Töpfer, T. Ortlepp Cryogenics Volume 49, Issue 11, November 2009, 643-647, ISSN 0011-2275, www.elsevier.com/locate/cryogenics  
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  1219. Entwicklungstrends von Sensortechnologien  
W. Sinn, 2. ELMUG- Branchentag, 18.November 2009, Erfurt  
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  1220. Parameter Identification of MEMS Membrane and Beam Structures by Modal Analysis and Dynamic Measurements  
St. Michael, ANSYS Conference & 27. CADFEM Users' Meeting, 18. - 20. November 2009, Leipzig  
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