1735 results
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Charakterisierung von HF-Zellen verschiedener Technologien unter Nutzung modularer PXI-Testsysteme
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Entwurf und Einsatzerfahrungen eines flexibel konfigurierbaren PXI-Testsystems für on-wafer Messungen im Halbleiterbereich
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Erhöhung der Testqualität für optoelektrische Schaltungen durch Charakterisierung des Strahlprofils