1251. Entwurf und Einsatzerfahrungen eines flexibel konfigurierbaren PXI Testsystems für on-wafer Messungen im Halbleiterbereich   I. Gryl, G. Kropp R. Paris 22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  

  1252. Charakterisierung von HF-Zellen verschiedener Technologien unter Nutzung modularer PXI-Testsysteme   B. Bieske, K. Gille 22nd ITG/GI/GMM Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  

  1253. Entwurf und Einsatzerfahrungen eines flexibel konfigurierbaren PXI-Testsystems für on-wafer Messungen im Halbleiterbereich   I. Gryl, G. Kropp R. Paris 22nd ITG/GI/GMM Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  

  1254. Erhöhung der Testqualität für optoelektrische Schaltungen durch Charakterisierung des Strahlprofils   M. Reinhard, M. Meister U. Liebold T. Cohrs Dr. D. Nuernbergk 22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  

  1255. GALILEO - Regionale Initiativen in Deutschland & Konvergenz zur Identifikation   Dr. W. Sinn, AMA-Wissenschaftsrat, 23.02.2010, Berlin  

  1256. A New Low Voltage Bandgap Reference Topology   M. Isikhan, T. Reich A. Richter E. Hennig International Conference on Electronics Circuits and Systems, 13.-16. Dezember, 2009, Hammamet, Tunesien  

  1257. A Post-Layout Optimization Method With Automatic Device Type Selection for BiCMOS Analog Circuits   T. Reich, B. Dimov Ch. Lang V. Boos E. Hennig International Conference on Electronics Circuits and Systems, 13.-16. Dezember, 2009, Hammamet, Tunesien  

  1258. Verkehr und Logistik- Zukunftsprojekte für RFID   W. Sinn, 3. Dresdner RFID-Symposium, 10. - 11. Dezember 2009, Dresden  

  1259. Design infrastructure for Rapid Single Flux Quantum circuits   H. Töpfer, T. Ortlepp Cryogenics Volume 49, Issue 11, November 2009, 643-647, ISSN 0011-2275, www.elsevier.com/locate/cryogenics  

  1260. Entwicklungstrends von Sensortechnologien   W. Sinn, 2. ELMUG- Branchentag, 18.November 2009, Erfurt