1181. Symbolische Analyse von effizienten Y/S-Parameter-Umrechnungen für N-Ports   A. Richter, 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt  

  1182. Symbolische Analyse von effizienten Y/S-Parameter-Umrechnungen für N-Ports   A. Richter, 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt, in Proceedings  

  1183. Adaptive gain control for high dynamic range optical receivers   A. Amar, T. Cohrs 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt  

  1184. Application of 3-D EM-Simulation in Research of Integrated Inductors, System in Package (SiP) Design and Package Effects   W. Wu, M. Isikhan 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt  

  1185. Application of 3-D EM Simulation in Research of Integrated Inductors, System in Package (SiP) Design and Package Effects   W. Wu, M. Isikhan 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt, in Proceedings  

  1186. Testfeld zur Charakterisierung von Laserspot-Größen zur Untersuchung und Modellierung des HF-Verhaltens von pin-Fotodioden   M. Reinhard, U. Liebold G. Methner M. Meister Dr. D. Nuernbergk 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt  

  1187. Gradientenbasierte Eigenwertoptimierung zur Frequenzgangskompensation linearer Analogschaltungen. (Kooperation der TU Ilmenau & IMMS GmbH)   E. Schäfer, D. Krauße Prof. Dr. R. Sommer Dr. E. Hennig 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt, in Proceedings  

  1188. Testfeld zur Charakterisierung von Laserspot-Größen zur Untersuchung und Modellierung des HF-Verhaltens von pin-Fotodioden   M. Reinhard, U. Liebold G. Methner M. Meister Dr. D. Nuernbergk 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt, in Proceedings  

  1189. Evaluation of Low Leakage Currents using a Floating-Gate Transistor   D. Kirsten, Dr. D. Nuernbergk Ultimate Integration on Silicon, 17.03.-19.03.2010, Glasgow, United Kingdom  

  1190. Evaluation of Low Leakage Currents using a Floating Gate Transistor   D. Kirsten, Dr. D. Nuernbergk International Conference on Ultimate Limits on Silicon 2010, 17.03.-19.03.2010, Glasgow, United Kingdom: in Proccedings of the 11th ULIS