D. Kirsten,
Dr. D. Nuernbergk
International Conference on Ultimate Limits on Silicon 2010, 17.03.-19.03.2010, Glasgow, United Kingdom: in Proccedings of the 11th ULIS
I. Gryl,
G. Kropp
R. Paris
22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn