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Pressemitteilungen
  551. Kostenloser Workshop „Linux-basierte echtzeitfähige Sensorsysteme für die Produktionsdatenerfassung“  
Auftakt zu vier Sensorik-4.0-Workshops 2018 zur schrittweisen Einführung von Digitalisierungslösungen, 08.03.2018, IMMS  
Pressemitteilungen
  552. Neue Methoden zum kostengünstigen Monitoring von Datenleitungen in laufenden Industrieanlagen  
Forschungsvorhaben im Projekt Ko²SiBus zum Konsortialtreffen vor Industrievertretern vorgestellt  
Pressemitteilungen
  553. IMMS ist erste I4.0-Testumgebung Thüringens – Kooperation für KMU vom BMBF gefördert  
Unternehmen können ihre Industrie-4.0-Entwicklungen unter realistischen Bedingungen testen  
Referenz
  554. Ko²SiBus  
Es wurden neue Methoden entwickelt, mit denen sich Datenleitungen in laufenden Industrieanlagen kostengünstig überwachen lassen.  
Referenz
  555. Kommunikation – ist doch selbstverständlich, oder?  
Franziska Buchwald, Jenaer Technologietag, Digitale Arbeitswelten, Workshop zu Vernetzung, 31. Januar 2018, Ernst-Abbe-Hochschule, Jena  
Referenz
  556. Mehr Transparenz in der Produktion und in Prozessen durch nachrüstbare Sensorik  
Jörg Weber, Jenaer Technologietag, Digitale Arbeitswelten, Workshop zu Technologie, 31. Januar 2018, Ernst-Abbe-Hochschule, Jena  
Referenz
  557. Verfahren zum Bestimmen einer Widerstandsauslenkung einer Wheatstone-Brücke in einer Hochtemperaturumgebung  
Georg Gläser, André Richter Dirk Nuernbergk Dagmar Kirsten DE 10 2016 113 283 A1  
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  558. Wie Mikroelektronik dabei hilft, Krebs im Frühstadium zu erkennen  
Alexander Hofmann, Michael Meister Friedrich Scholz Balázs Németh Susette Germer Hendrik Härter Elektronikpraxis, Fachwissen für Elektronik Professionals, Nr. 1, 11. Januar 2018, S. 46 - 48, online: https://www.elektronikpraxis.vogel.de/wie-mikroelektronik-dabei-hilft-krebs-im-fruehstadium-zu-erkennen-a-673280/  
Pressemitteilungen
  559. Alles Gute für 2018!  
IMMS startet mit neuem Leiter Mikroelektronik ins neue Jahr.  
Referenz
  560. High Voltage RF-Multiplexer for medical Applications – Development of a Test Environment up to 100 V and 100 MHz  
Bjoern Bieske, Dagmar Kirsten tm - Technisches Messen, 85(5), pp. 302-311, DOI: https://doi.org/10.1515/teme-2017-0117  
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