1st Place – EDA Competition Award für den Beitrag: Trash or Treasure? Machine-learning based PCB layout anomaly detection with AnoPCB
2021 18th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), 19 – 22 July 2021, Erfurt, Germany, online
Zugehörige Inhalte
Projekt
IntelligEnt
Das IMMS forschte an Assistenzsystemen für Chip-Designer: Machine Learning verbessert Entwurfs- und Testmethoden für integrierte Analog/Mixed-Signal-Systeme.
Machine-Learning im PCB-Entwurf: Open-Source zwischen Forschung, Potential und Alltag
Georg Gläser1.30. Konferenz des Fachverbandes für Design, Leiterplatten- und Elektronikfertigung (FED), 29. - 30. September 2022, Potsdam, Germany
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany.Intelligente Layoutverarbeitung: KI für ASIC- und PCB-Layouts
Georg Gläser1. Julian Kuners1.Elektronik, 03.2022, 9. Februar 2022, Seite 42 - 45, ePaper: wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany.Machine-Learning-basierte Messdatenanalyse für ASICs. Testen auf der Überholspur
Tom Reinhold1. Georg Gläser1.Elektronik, 01/02.2022, 26. Januar 2022, Seite 46 - 48, ePaper: wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany.Trash or Treasure? Machine-learning based PCB layout anomaly detection with AnoPCB
Henning Franke1. Paul Kucera1. Julian Kuners1. Tom Reinhold2. Martin Grabmann2. Patrick Mäder1. Marco Seeland1. Georg Gläser2.2021 17th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), Proceedings in: 423 Seiten, 140 x 124 mm, Slimlinebox, CD-Rom, ISBN 978-3-8007-5588-2, E-Book: ISBN 978-3-8007-5589-9, ieeexplore.ieee.org/document/9547913, 19 - 22 July 2021, Erfurt, Germany, online
1Technische Universität Ilmenau, Germany. 2IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany.
Veranstaltung,
CiS-Workshop 2023
Workshop Simulation & Design 2023 am CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik
Veranstaltung,
FED-Konferenz
30. Konferenz des Fachverbandes für Design, Leiterplatten- und Elektronikfertigung (FED)
Veranstaltung,
Forum Künstliche Intelligenz
Forum Künstliche Intelligenz der Fachmedien Elektronik, Elektronik automotive und Computer&AUTOMATION. Das Forum wurde vom Veranstalter abgesagt.
Veranstaltung,
KI für KMU
KI für KMU – Prozesse optimieren mit künstlicher Intelligenz, Vortragsveranstaltung von Mittelstand 4.0
Pressemitteilung,
Zuverlässige und schnellere Chip-Designs durch invasive und parametrische Simulationsmethoden
Dissertation zu neuen Methoden für die Automatisierung beim Entwurf integrierter Schaltungen
Pressemitteilung,
EDA Competition Award für „Trash or Treasure“ – Intelligente Layoutverarbeitung
1. Preis des IEEE CEDA geht an Nachwuchswissenschaftler von TU Ilmenau und IMMS
Pressemitteilung,
Forschergruppe „IntelligEnt“ gestartet: Künstliche Intelligenz und Machine Learning für den Entwurf von Mikroelektronik
IMMS und TU Ilmenau forschen an neuartigen Assistenzsystemen für Chip-Designer
Das könnte Sie auch interessieren
Dienstleistung
IC-Entwurfsmethoden
Wir entwickeln für Ihre System-on-Chip- und FPGA-Entwürfe neue KI-basierte Methoden und Werkzeuge, um die steigende Komplexität integrierter Systeme zu beherrschen und damit die Leistungsfähigkeit weiter zu steigern.
Forschungsfeld
Integrierte Sensorsysteme
Hier erforschen wir in Halbleitertechnologien gefertigte miniaturisierte Systeme aus mikroelektronischen Komponenten für sensorische Anwendungen sowie Methoden, um diese hochkomplexen Systeme effizient und sicher zu entwerfen.
Kernthema
KI-basierte Entwurfs- und Testautomatisierung
Wir forschen daran, den Entwicklungsprozess von integrierten Sensorsystemen mit KI sicher und kostengünstiger zu machen. KI kann die Entwickler im Prozess unterstützen, Fehler zu vermeiden und informelles Wissen automatisiert anzuwenden.
Kernthema
Modulare und mobile Testsysteme
Testmöglichkeiten sind fester Bestandteil aller Applikationsentwicklungen. Wir forschen an modularen Testsystemen, die durch optimierte funktionale Testeinheiten flexibel und schnell an neue Herausforderungen angepasst werden können.
Kontakt
Kontakt
Eric Schäfer, M. Sc.
Leiter Mikroelektronik und Institutsteil Erfurt
eric.schaefer(at)imms.de+49 (0) 361 663 25 35
Eric Schäfer und sein Team erforschen Integrierte Sensorsysteme und hier insbesondere CMOS-basierte Biosensoren, ULP-Sensorsysteme und KI-basierte Entwurfs- und Testautomatisierung. Die Ergebnisse fließen in die Forschung an den Leitthemen Sensorsysteme für die In-vitro-Diagnostik und RFID-Sensoren ein. Er unterstützt Sie mit Dienstleistungen rund um die Entwicklung integrierter Schaltungen und mit KI-basierten Methoden für komplexe IC-Entwürfe.