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Test und Charakterisierung

Wir testen, charakterisieren und qualifizieren Ihre Schaltkreise, Sensoren und Systeme. Auf Basis unseres exzellenten Messgerätepools entwickeln wir eine individuell angepasste Testumgebung für Messungen an Wafern und Einzelbauelementen. Unser Leistungsspektrum reicht von Messungen an Transistoren, Schaltkreisen und Baugruppen bis hin zur Charakterisierung komplexer Applikationen.

Mit unserem Team unterstützen wir Sie gerne bei:

Gemeinsam mit Ihnen entwickeln und optimieren wir Testaufbauten, um die Parameter Ihrer Schaltkreise und Komponenten genau und schnell bestimmen zu können.

  • Entwicklung von Testmethoden
  • Modulare Testplattformen
  • Entwicklung von applikationsspezifischem Testequipment
  • Load-Board-Entwicklung für Testplattformen im Produktionstest
  • Entwicklung von Probe-Cards für den Wafertest

Wir unterstützen Sie bei der Erstellung und Optimierung automatischer Testabläufe zur Bestimmung vertrauenswürdiger und reproduzierbarer Messdaten.

  • Wafertest (max. 12‘‘ Wafer)
  • PXI-Testsysteme
  • Test-Programmierung (LabView, Python, C)
  • Statistische Messdatenauswertung

Durch unsere langjährige Erfahrung bei der Entwicklung und der Durchführung von Kleinserientests sichern wir zuverlässig Qualität und Termintreue.

  • Automatisierter Wafertest (max. 12‘‘ Wafer)
  • Bauelementetest
  • Test unter Temperatureinfluss (-40 °C … 300 °C)
  • Qualitätssicherung durch statistische Messdatenauswertung

Zur Vorhersage der Lebensdauer Ihrer Schaltungen und Bauelemente entwickeln wir gemeinsam mit Ihnen ein Setup zur beschleunigten Alterung und führen die erforderlichen Alterungstests durch.

  • Entwicklung von Setups zur Alterung
  • Ermittlung von Stressbedingungen
  • Bewertung der Alterungsentwicklung

Zur Überführung Ihrer Entwicklungen in die Produktion organisieren wir gemeinsam mit Ihnen Qualifikationsuntersuchungen für Bauelemente bzw. Gehäuse gemäß JEDEC-Standard.

  • Planung und Durchführung von Qualifikationsuntersuchungen nach JEDEC-Standard
  • Device-Qualification (HTOL, LTOL, Latch-Up, ESD, usw.)
  • Package-Qualification (HTSL, UHAST, TC, usw.)
  • Entwicklung einer geeigneten Testumgebung

Zur Sicherung und Überwachung Ihrer qualitativ hochwertigen Technologien und Produkte bieten wir die Durchführung entwicklungs- und produktionsbegleitender Untersuchungen an.

  • Messungen von Bauelementeparametern
  • ESD-Untersuchungen entsprechend der Standards HBM und TLP
  • Charakterisierung für Halbleitertechnologien (CMOS, SOI, BiCMOS)
  • Untersuchungen zur Zuverlässigkeit und Qualitätssicherung für Halbleiterhersteller

Dafür setzen wir unsere langjährige Erfahrung und Expertise in folgenden Gebieten ein:

  • HF- und EMV-gerechtes Schaltungsdesign und PCB-Layout
  • Charakterisierung und Test von ICs und Baugruppen (koaxial und on wafer)
  • Impedanz- und S-Parametermessungen bis 50 GHz
  • Spektral- und Signalanalyse bis 26 GHz
  • Rauschmessungen bis 26 GHz

  • statische und dynamische Messungen an optischen Sensoren
  • Parameterbestimmung an Lichtquellen
  • Entwicklung optoelektronischer Schaltungen
  • spektrale Untersuchungen an Lichtquellen und -detektoren
  • Mess- und Applikationssysteme für Einzelphotonen-Detektoren (SPAD)

  • Schaltungsentwicklung für Leistungsanwendungen
  • statische und dynamische Messungen an Leistungshalbleitern
  • Wafertest bis 1 kV
  • Pre-Compliance-Messung leitungsgebundener Emissionen (EMV)
  • Langzeituntersuchungen an Hochvoltbauteilen unter Temperatureinfluss (HTRB-Messungen)

  • HBM-Standard
  • TLP-Standard
  • Wafertest
  • Bauelementetest

  • Test bis zu 300 °C
  • Wafertest
  • Bauelementetest
  • Entwicklung von Testlösungen für Hochtemperaturtests

  • vibrometrische Messungen zur Analyse mechanischer Schwingungen
  • elektrische und kapazitive Schwingungsanregung
  • Wafertest
  • Bauelementetest

Kontakt

Kontakt

Dipl.-Ing. Michael Meister

Leiter Industrielle Elektronik und Messtechnik

michael.meister(at)imms.de+49 (0) 3677 874 93 20

Michael Meister ist Ihr Ansprechpartner für Testdienstleistungen, Testmethodikentwicklung und Langzeituntersuchungen. Er beantwortet Ihre Fragen zum Kernthema Modulare und mobile Testsysteme, die wir in unserem Forschungsfeld Intelligente vernetzte Mess- und Testsysteme entwickeln, sowie zu Test und Charakterisierung von Integrierten Sensorsystemen. Er ist verantwortlich für den Messgerätepool des IMMS und unterstützt Sie bei der Validierung von ASIC- und MEMS-Entwicklungen.

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Projekt

TSN-Testlabor

Im Labor für Time-sensitive Networking (TSN) untersucht das IMMS technologische Grenzen beim Aufbau datenintensiver industrieller Echtzeitanwendungen.

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MEMS-Vibro3D

Forschungsinfrastruktur für neue MEMS-Generation: 3D-Vibrometersystem und Breitband-Verstärkersystem.

Projekt

MEMS-T-Lab

Im MEMS-T-Lab nimmt das IMMS hochkomplexe teilautomatisierte Messungen für komplette MEMS-Wafer vor

Referenz

Hans-Christian Fritsch, Ilmsens

„Uns hat es besonders gefreut, dass wir als Thüringer Startup mit dem IMMS eine innovative hochtechnologische Lösung mit dem Thüringer Halbleiterhersteller X-FAB realisieren konnten. Wir schätzen die hohe Expertise und Flexibilität sowie die kundenorientierte und die zielgerichtete Arbeitsweise der Kollegen am IMMS.“

Referenz

Christian Paintz, Melexis

„Insbesondere bei der Auswertung von Messdaten hat das IMMS eindrucksvoll demonstriert, dass ein lernender Algorithmus der manuellen Auswertung ebenbürtig ist – bei gleichzeitig großer Zeitersparnis. Auch die Methoden zur Schaltungs- und Layoutanalyse verfolgen wir weiter, da wir auch hier ein großes Forschungs- und Anwendungspotential sehen.“

Referenz

Dalibor Stojkovic, ams OSRAM

„Wir schätzen sowohl die fachliche Expertise des IMMS als auch das hohe Engagement in unseren gemeinsamen Projekten. Die proaktive und agile Arbeitsweise der Kollegen des IMMS ist ein wesentlicher Baustein für unseren gemeinsamen Erfolg.“

Referenz

Hans-Peter Kraus, Productivity Engineering GmbH

„Wir können uns nicht nur auf eine gleichbleibend hohe Qualität, höchste Termintreue und flexible Reaktionen auf applikationsbedingte Änderungen verlassen, sondern profitieren von der proaktiven Zusammenarbeit mit Ideen und Verbesserungsvorschlägen und können das IMMS daher uneingeschränkt als Testdienstleister für die Industrie empfehlen.“
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KI-basierte Entwurfs- und Testautomatisierung

Wir forschen daran, den Entwicklungsprozess von integrierten Sensorsystemen mit KI sicher und kostengünstiger zu machen. KI kann die Entwickler im Prozess unterstützen, Fehler zu vermeiden und informelles Wissen automatisiert anzuwenden.

Über uns

Ausstattung

Wir nutzen den neuesten Stand der Technik für unsere F&E-Arbeiten. Unter anderem erweitern wir permanent unsere technische Labor- und Geräteinfrastruktur, um im internationalen wissenschaftlichen Wettbewerbsumfeld konkurrenzfähig bleiben zu können.