Ausstattung
Um unsere Partner dauerhaft mit elektronischen Systemlösungen auf dem neuesten Stand der Technik zu unterstützen, erschließen wir zum einen kontinuierlich neue Fertigungstechnologien und Partnerschaften für unsere F&E-Arbeiten. Zum anderen erweitern wir permanent unsere technische Labor- und Geräteinfrastruktur, um im internationalen wissenschaftlichen Wettbewerbsumfeld konkurrenzfähig bleiben zu können.
Wir verfügen über eine umfangreiche Ausstattung für den Entwurf, die Charakterisierung und den Test der am Institut entwickelten Systeme bzw. für Testdienstleistungen. Das Spektrum deckt dabei die unterschiedlichen Systemebenen ab – begonnen bei Materialparametern, vom Transistor über Baugruppe bis hin zu komplexen Applikationen.
Unsere technische Labor- und Geräteinfrastruktur
- Waferprober für bis zu 12‘‘-Wafer
- Testtemperatur: –60 °C .. 300 °C
- Einspeisung von optischen Signalen
- Active Probes
- PXI-basiert
- verschiedene Instrumente für den Analog-Mixed-Signal-Test
- kombinierbar mit Waferprober
- Testautomatisierung mit LabView-Programmen
- Source-Measurement-Unit (SMU)
- Spannungen 0.5 µV – 200 V
- Ströme 0.1 fA – 1 A
- Impedanz-Analysator
- Frequenzbereich 20 Hz – 120 MHz
- Oszilloskope
- Bis zu 12 Bit Auflösung
- Bis zu 8 GHz Bandbreite
- 80 GSa/s Abtastrate
- Optischer Leistungsmesser
- Monochromatische Lichtquelle aus Xenonlichtquelle mit Monochromator 200nm – 1100nm
- Spektrometer
- Time Tagger (Zeitauflösung 5 ps)
- Optische Bank (schwingungsgedämpft)
- Strahlführungssysteme
- Laserquellen (verschiedene Wellenlängen)
- Pulse-Laser (FWHM 70 ps)
- Modulierte Laser (Bandbreite bis zu 2 GHz)
- Netzwerkanalysatoren 9 kHz – 50 GHz
- Rauschmessplatz
- Spektrumanalysatoren bis 26 GHz
- Signalgeneratoren bis 6 GHz
- RFID-Testsystem
- Kennlinienschreiber 400 A (gepulst/30V)
- SMU bis 10 kV
- Netznachbildung
- Spannungsbereich bis 2,1 kV
- Strombereich bis 40 A
- ESD-Modelle HBM, TLP, MM
- Wärmeschrank bis 350 °C
- Klimaschrank
- Temperaturbereich –40 °C – 150 °C
- Rel. Feuchte 0 % – 100 %
- Vibrometer
- Weißlicht-Interferometer
Infrastrukturprojekte
TSN-Testlabor
Im Labor für Time-sensitive Networking (TSN) untersuchen wir technologische Grenzen beim Aufbau datenintensiver industrieller Echtzeitanwendungen.
MEMS-T-Lab
Im MEMS-T-Lab nimmt das IMMS hochkomplexe teilautomatisierte Messungen für komplette MEMS-Wafer vor.
MEMS-Vibro3D
Forschungsinfrastruktur für neue MEMS-Generation: 3D-Vibrometersystem und Breitband-Verstärkersystem.
Kontakt
Kontakt
Dipl.-Ing. Michael Meister
Leiter Industrielle Elektronik und Messtechnik
michael.meister(at)imms.de+49 (0) 3677 874 93 20
Michael Meister ist Ihr Ansprechpartner für Testdienstleistungen, Testmethodikentwicklung und Langzeituntersuchungen. Er beantwortet Ihre Fragen zum Kernthema Modulare und mobile Testsysteme, die wir in unserem Forschungsfeld Intelligente vernetzte Mess- und Testsysteme entwickeln, sowie zu Test und Charakterisierung von Integrierten Sensorsystemen. Er ist verantwortlich für den Messgerätepool des IMMS und unterstützt Sie bei der Validierung von ASIC- und MEMS-Entwicklungen.
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Wir testen, charakterisieren und qualifizieren Ihre Schaltkreise, Sensoren und Systeme. Auf Basis unseres exzellenten Messgerätepools entwickeln wir eine individuell angepasste Testumgebung für Messungen an Wafern und Einzelbauelementen.
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Wir entwickeln als Designhouse für die offene Technologieplattform XMB-10 von X-FAB Beschleunigungssensoren entsprechend Ihrer Spezifikation. Beim Test von MEMS fokussieren wir uns auf die vibrometrische Untersuchung von Sensoren.