2111 Ergebnisse
Referenz
  511. EXPerimentierfeld zur datengetRiebenen VErnetzung und DigitaliSierung in der LandwirtSchaft (EXPRESS)  
Ingolf Römer, Martin Schieck Hannes Mollenhauer Rikard Graß Silvia Krug Juliane Welz Valentin Knitsch 41. GIL-Jahrestagung, Informations- und Kommunikationstechnologien in kritischen Zeiten, 7. - 8. März 2021, online  
Veranstaltung
  513. 41. GIL-Jahrestagung  
Leibniz-Institut für Agrartechnik und Bioökonomie e.V.  
Pressemitteilungen
  514. Thüringer Projekt entwickelt neuartige Technologieplattform zum Nachweis von SARS-CoV-2  
Änderung der elektrischen Leitfähigkeit macht Virusmaterial sichtbar  
Referenz
  515. ViroGraph  
Es wird eine neuartige Technologieplattform mit Graphen-basiertem Feldeffekttransistor zum Nachweis von SARS-CoV-2 entwickelt.  
Referenz
  516. Picometer-Scale Positioning of a Linear Drive System via Feedforward-Feedback Control  
Alex S. Huaman, Michael Katzschmann Steffen Hesse Christoph Schäffel Christoph Weise Denis Dontsov Eberhard Manske Johann Reger 2021 IEEE International Conference on Mechatronics (ICM2021), DOI: https://doi.org/10.1109/ICM46511.2021.9385699, 7 - 9 March 2021, Kashiwa, Japan  
Veranstaltung
  517. ICM 2021  
International Conference on Mechatronics  
Referenz
  518. Nanopositioning and fabrication using the Nano Fabrication Machine with a positioning range up to ⊘100 mm  
Jaqueline Stauffenberg, Christoph Reuter Ingo Ortlepp Mathias Holz Denis Dontsov Christoph Schäffel Jens-Peter Zöllner Ivo Rangelow Steffen Strehle Eberhard Manske Proc. SPIE 11610, Novel Patterning Technologies 2021, 1161016 (22 February 2021); DOI: https://doi.org/10.1117/12.2583703  
Referenz
  519. Terminalsystem 2.0: Neue, flexible Möglichkeiten der Kombination von PXI-Testerressourcen bis 1 GHz  
Björn Bieske, Ludwig Kircher Alexander Rolapp 33. GI/GMM/ITG-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2021), 22. Februar 2021, online  
Veranstaltung
  520. SPIE 2021  
Advanced Lithography Digital Forum of The International Society for Optics and Photonics  
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