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111. 2022 Annual Report | Article KI-EDA model error estimation (en/de)

2022 Jahresbericht | Fachartikel KI-EDA Modellfehlerschätzung (en/de): KI-basierte Modellfehlerschätzung macht Simulationen effizienter – KI unterstützt die Entwicklung von Mikrochips

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112. 2022 Annual Report | Article KI-EDA AMS ASIC Scope (en/de)

2022 Jahresbericht | Fachartikel KI-EDA AMS ASIC Scope (en/de): Testbench in Hardware: AMS ASIC Scope zur Validierung KI-basierter Simulationsmethoden im Chip-Entwurf

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113. 2022 Annual Report | Article SensoMem (en/de)

2022 Jahresbericht | Fachartikel SensoMem (en/de): Sensorik zur Online-Überwachung von Membranreaktoren für Dialyseprozesse und In-vitro-Proteinsynthese großer Probenvolumina

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114. Mit smarten Sensorsystemen und KI zu nachhaltigerer Produktion

Wolfram Kattanek, Digital-Gipfel 2023, 20. November 2023, Jena

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115. A Modular Platform to Build Task Specific IoT Network Solutions for Agriculture and Forestry

Silvia Krug, Marco Goetze Sören Schneider Tino Hutschenreuther 2023 IEEE International Workshop on Metrology for Agriculture and Forestry (MetroAgriFor), Pisa, Italy, November 06-08, 2023, pp. 820-825, DOI: https://doi.org/10.1109/MetroAgriFor58484.2023.10424104

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116. Plot-specific drought stress simulation in vineyards using a microclimatic monitoring system in combination with a radiation and water balance model

Rikard Graß, Hannah Boedeker Marco Hofmann Martin Schieck Silvia Krug Tino Hutschenreuther Hannes Mollenhauer 2023 IEEE International Workshop on Metrology for Agriculture and Forestry (MetroAgriFor), Pisa, Italy, November 06-08, 2023, pp. 343-347, DOI: https://doi.org/10.1109/MetroAgriFor58484.2023.10424113

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117. iENA silver medal for “Circuit configuration to provide the charging energy for a level change on a signal bus, method for the calibration and signal transmission system”

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118. KODIAK: Components and modules for improved optical diagnostics

Michael Scholles, Nicole Isserstedt-John Dirk Kuhlmeier Martin Jahn Martin Reuter Benjamin Saft, Eric Schäfer Mirjam Skadell, Alexander Zimmer Ana Leonor H. Lopes MikroSystemTechnik Kongress 2023, 23. - 25. Oktober 2023, Dresden

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119. Automatisiertes Testen mikroelektronischer Schaltungen – Fuzzing findet Bugs in Hardware

Henning Siemen, Jonas Lienke Georg Gläser Elektronik, 21.2023, 18. Oktober 2023, Seite 64 - 67, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2321D

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120. Edge KI Systeme für die vorausschauende Instandhaltung

Sebastian Uziel, elmug4future, Technologiekonferenz, 17. - 18. Oktober 2023, Friedrichroda, Thüringen