111. Propagation Delay Estimation for Mixed-Signal Modeling of Comparators   Martin Grabmann, Eric Schäfer Georg Gläser 2024 20th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), Volos, Greece, July 02-05, 2024, pp. 1-4, DOI: https://doi.org/10.1109/SMACD61181.2024.10745467  

  112. Einstieg in die HF-(Mess-)Technik   Björn Bieske, HAM Radio, Internationale Amateurfunk-Ausstellung, 28. - 30. Juni 2024, Friedrichshafen, Germany  

  114. DI-Meta-X: Bridging the Gap with Meta Formats   Georg Gläser, Melanie Wilhelm Robert Fischbach Detlef Bille Jan Mehner Peter Kreutziger Auftaktveranstaltung Chipdesign Germany, 6. - 7. Juni 2024, Hannover  

  115. Enhancing Chemiluminescence-Detection with Dark-Count Rate Optimization Strategies for SPADs in Conventional CMOS Technologies   Benjamin Saft, Alexander Zimmer Maximilian Wiener Mirjam Skadell Eric Schäfer ISSW 2024, The International SPAD Sensor Workshop & the SPAD SENSOR SCHOOL, Trento, Italy, June 3 - 6, 2024  

  116. VE-ARiS: Elektronischer Knowhow-Schutz für innovative Sensorsysteme. Abwehr von Reserve-Engineering auf IC-Ebene   Projektkonsortium VE-ARiS (iC-Haus GmbH, Wachendorff Automation GmbH & Co. KG, IMMS GmbH), Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024, 4. - 5. Juni 2024, München  

  117. What The Fuzz (WTF): A Framework for Fuzz Testing ASIC Designs   Henning Siemen, Georg Gläser Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024, 4. - 5. Juni 2024, München  

  118. VE-ARiS: Alberich und die Tarnkappenfabrik. SKAW – Schaltungskopierbarkeitsanalysewerkzeug   Adrian Pitterling, Florian Kögler Georg Gläser Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024, 4. - 5. Juni 2024, München  

  119. A Charge Pump System with Controlled Input Impedance for Optimized RFID Energy Harvesting   Rohit Kesharwani, Andre Jäger Martin Grabmann David Schreiber Georg Gläser Hani Abdullah Eric Schäfer 2024 IEEE International Conference on RFID (RFID), Boston, MA, USA, June 4-6, 2024, DOI: https://doi.org/10.1109/RFID62091.2024.10582749  

  120. TEEMSC – Trainable Energy Efficient Machine Diagnosis using Singular Values and Canonical Crosscorrelation   Rick Pandey, Sebastian Uziel Tino Hutschenreuther Silvia Krug IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 and IoT, Florence, Italy, May 29-31, 2024, DOI: https://doi.org/10.1109/MetroInd4.0IoT61288.2024.10584173