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  121. Trust is Good, Monitoring is Better: FPGA- & TEE-Based Monitoring for Malware-Detection  
Friederike Bruns, Georg Gläser Florian Kögler Jonas Lienke Nithin R. Nanjundaswamy Gregor Nitsche Behnam R. Perjikolaei Jörg Walter 13th IMA International Conference on Modelling in Industrial Maintenance and Reliability MIMAR2025, July 8-10, 2025, Université de Lorraine, France, DOI: https://doi.org/10.19124/ima.2025.01.25  
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  122. SMACD 2025  
A man is sitting in front of a computer with 2 screens with a programming and design environment. International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods, and Applications to Circuit Design  
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  123. HF-Messtechnik 2: Klein gegen Groß – nanoVNA: messen und kalibrieren  
Björn Bieske, HAM Radio, Internationale Amateurfunk-Ausstellung, Juni 27-29, 2025, Friedrichshafen, Germany  
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  124. Demonstration einer automatisierten Bewässerungssteuerung für den Obstbau  
Silvia Krug, Thüringer Kirschentag 2025, 25. Juni 2025, Thüringer Landesamt für Landwirtschaft und Ländlichen Raum, Lehr- und Versuchszentrum Gartenbau (LVG), Erfurt  
Event
  125. Thüringer Kirschentag 2025  
Five boxes suspended from a wire rope, from which cables lead into the ground to buried soil moisture sensors. Thüringer Landesamt für Landwirtschaft und Ländlichen Raum, Lehr- und Versuchszentrum Gartenbau (LVG)  
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  126. Datenaustauschaspekte entlang der Wertschöpfungskette Obst im Projekt MIRO  
Silvia Krug, Bernburger Innovationstage, Juni 18-19, 2025, Hochschule Anhalt, Bernburg-Strenzfeld  
Reference
  127. Demonstration einer automatisierten Bewässerungssteuerung für den Obstbau  
Silvia Krug, Öko Feldtage 2025 auf dem Wassergut Canitz, Juni 18-19, 2025, 04808 Thallwitz, Sachsen, Gemany  
Event
  128. Bernburger Innovationstage  
Fruit orchard. Sensor technology is installed in three small weatherproof housings on the tree in the foreground, with a small box above it – the wildlife camera. Photograph: IMMS. Wissenstransfer und Innovationen für die Landwirtschaft von morgen  
Reference
  129. DI-Meta-X  
In the Meta-X project, innovative tools for IC design are being created.  
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  130. TCL: Time-Dependent Clustering Loss for Optimizing Post-Training Feature Map Quantization for Partitioned DNNs  
Oscar Artur Bernd Berg, Eiraj Saqib Axel Jantsch Irida Shallari Silvia Krug Isaac Sánchez Leal Mattias O’Nils in IEEE Access, vol. 13, pp. 103640-103648, 2025, DOI: https://doi.org/10.1109/ACCESS.2025.3579107  
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