131. A Retrofit Streetlamp Monitoring Solution Using LoRaWAN Communications   Sören Schneider, Marco Götze Silvia Krug Tino Hutschenreuther Eng 2024, 5, 513-531, DOI: https://doi.org/10.3390/eng5010028  

  132. An Improved Architecture for a Fully Digital UHF RFID PIE-Stream Data Recovery Circuit   Georg Gläser, Björn Bieske Jonas Lienke Martin Grabmann Hani Abdullah David Schreiber André Jäger Eric Schäfer EASS – Energieautonome Sensorsysteme 2024, 12. GMM-Tagung, Freiburg, Germany, 19. - 20. März 2024, pp. 37-39, https://ieeexplore.ieee.org/document/10659690  

  133. SPAD-Based Sensor IC for chemiluminescence assays in microfluidic channels   Alexander Zimmer, Benjamin Saft Maximilian Wiener Jakob Hampel Mirjam Skadell Eric Schäfer Conference of Science & Technology for Integrated Circuits (CSTIC), Shanghai, China, March 17-18, 2024, DOI: https://doi.org/10.1109/CSTIC61820.2024.10531988  

  134. Systematische Evaluation des Energieverbrauches von Funksensorknoten während der Entwicklungsphase als Werkzeug für energieeffizientes System-Design   Alexander Jurin, Silvia Krug Sebastian Uziel 12. GMM/DVS-Fachtagung, Elektronische Baugruppen und Leiterplatten (EBL 2024), 5. - 6. März 2024, Fellbach, Germany  

  135. Evaluation and testing of GNSS receivers with real and synthetic satellite signals   Björn Bieske, Uwe Stehr Matthias Hein Syed N. Hasnain 36. ITG / GMM / GI -Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2024), 25. - 27. Februar 2024, Darmstadt, Germany  

  136. Pikosekundenschnelle Lichtmessungen für die Quantenforschung – Einzelphotonen präzise messen   Jakob Hampel, Elektronik, 04.2024, 20. Februar 2024, Seite 60 - 63, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2404D  

  139. Validierung KI-basierter Simulationsmethoden im Chip-Entwurf, Testbench in Hardware   Tom Reinhold, Elektronik, 25.2023, 29. November 2023, Seite 60 - 64, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2325D  

  140. Unconventional, lateral measurements with laser focus sensors for nanopositioning stages   Davi Anders Brasil, Michael Katzschmann Steffen Hesse Ludwig Herzog T. Fröhlich T. Kissinger euspen Special Interest Group Meeting, "Micro/Nano Manufacturing", 28. - 29. November 2023, Ilmenau, Germany