1778 results
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  1011. Evaluierung von HF-CMOS-Modulen für Kommunikationssysteme mit flexibel konfigurierbaren Testsystemen (PXI)  
Björn Bieske, Klaus Heinrich 13. ITG/GMM-Fachtagung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden (Analog), Aachen, 2013, CD-ROM, ITG-FB 239, ISBN 978-3-8007-3467-2  
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  1012. Evaluierung von HF-CMOS-Modulen für Kommunikationssysteme mit flexibel konfigurierbaren Testsystemen (PXI)  
Björn Bieske, Klaus Heinrich 13. ITG/GMM-Fachtagung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden (Analog), Aachen, 04.03.2013-06.03.2013  
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  1013. Degradation der HF-Parameter im GHz-Bereich durch Vergussmassen und Substratmaterialen  
Björn Bieske, Andre Jäger 13. ITG/GMM-Fachtagung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden (Analog), Aachen, 2013, CD-ROM, ITG-FB 239, ISBN 978-3-8007-3467-2  
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  1014. Degradation der HF-Parameter im GHz-Bereich durch Vergussmassen und Substratmaterialen  
Björn Bieske, Andre Jäger 13. ITG/GMM-Fachtagung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden (Analog), Aachen, 04.03.2013-06.03.2013  
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  1015. A Digitally Trimmable Wide Temperature Range 0.35-µm CMOS On-Chip Precision Voltage Reference  
Jun Tan, Marco Reinhard Dirk Nuernbergk Eckhard Hennig 13. ITG/GMM-Fachtagung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden (Analog), Aachen, 2013, CD-ROM, ITG-FB 239, ISBN 978-3-8007-3467-2  
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  1016. A Digitally Trimmable Wide Temperature Range 0.35-µm CMOS On-Chip Precision Voltage Reference  
Jun Tan, Marco Reinhard Dirk Nuernbergk Eckhard Hennig 13. ITG/GMM-Fachtagung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden (Analog), Aachen, 04.03.2013 - 06.03.2013  
Press release
  1017. BMBF-Projekt MEMS 2015  
 
Reference
  1018. Einfluss der Messumgebung auf die Performance des HF-Tests  
Björn Bieske, Alexander Schulz 25. GI/GMM/ITG-Workshop: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ), Dresden, 2013, Tagungsband, S. 33-36  
Reference
  1019. Einfluss der Messumgebung auf die Performance des HF-Tests  
Björn Bieske, Alexander Schulz 25. GI/GMM/ITG-Workshop: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ), Dresden, 24.02.2013 - 26.02.2013  
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  1020. MEMS2015 - Schaltplan-basierter Entwurf von MEMS für Anwendungen in Optik und Robotik  
Volker Boos, Ralf Popp Mirco Meiners D. Meisel A. Müller in Newsletter edacentrum, 01/2013  
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