Björn Bieske,
Alexander Schulz
25. GI/GMM/ITG-Workshop: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ), Dresden, 2013, Tagungsband, S. 33-36
Björn Bieske,
Alexander Schulz
25. GI/GMM/ITG-Workshop: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ), Dresden, 24.02.2013 - 26.02.2013
Komla Agla,
Olaf Wetzstein
Thomas Ortlepp
Hannes Töpfer
Telecommunications Forum (TELFOR) 20th, 2012, pp. 943-946, ISBN: 978-1-4673-2983-5, Digital Object Identifier: 10.1109/TELFOR.2012.6419364