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  121. Trust is Good, Monitoring is Better: FPGA- & TEE-Based Monitoring for Malware-Detection  
Friederike Bruns, Georg Gläser Florian Kögler Jonas Lienke Nithin R. Nanjundaswamy Gregor Nitsche Behnam R. Perjikolaei Jörg Walter 13th IMA International Conference on Modelling in Industrial Maintenance and Reliability MIMAR2025, July 8-10, 2025, Université de Lorraine, France, DOI: https://doi.org/10.19124/ima.2025.01.25  
Veranstaltung
  122. SMACD 2025  
Ein Mann sitzt vor einem Computer mit 2 Bildschirmen mit Programmier- und Entwurfsumgebung. International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods, and Applications to Circuit Design  
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  123. HF-Messtechnik 2: Klein gegen Groß – nanoVNA: messen und kalibrieren  
Björn Bieske, HAM Radio, Internationale Amateurfunk-Ausstellung, Juni 27-29, 2025, Friedrichshafen, Germany  
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  124. Demonstration einer automatisierten Bewässerungssteuerung für den Obstbau  
Falk Eisenreich, Thüringer Kirschentag 2025, 25. Juni 2025, Thüringer Landesamt für Landwirtschaft und Ländlichen Raum, Lehr- und Versuchszentrum Gartenbau (LVG), Erfurt  
Veranstaltung
  125. Thüringer Kirschentag 2025  
Fünf an einem Drahtseil aufgehängte Boxen, aus denen Kabel in die Erde zu vergrabenen Bodenfeuchtesensoren führen. Thüringer Landesamt für Landwirtschaft und Ländlichen Raum, Lehr- und Versuchszentrum Gartenbau (LVG)  
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  126. Datenaustauschaspekte entlang der Wertschöpfungskette Obst im Projekt MIRO  
Silvia Krug, Bernburger Innovationstage, Juni 18-19, 2025, Hochschule Anhalt, Bernburg-Strenzfeld  
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  127. Demonstration einer automatisierten Bewässerungssteuerung für den Obstbau  
Silvia Krug, Öko Feldtage 2025 auf dem Wassergut Canitz, Juni 18-19, 2025, 04808 Thallwitz, Sachsen, Gemany  
Veranstaltung
  128. Bernburger Innovationstage  
Obstplantage. Am Baum im Vordergrund ist Sensorik in drei kleinen wetterfesten Behältern installiert, darüber ein kleiner Kasten - die Wildkamera. Wissenstransfer und Innovationen für die Landwirtschaft von morgen  
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  129. DI-Meta-X  
Im Projekt Meta-X entstehen innovative Werkzeuge für den IC-Entwurf.  
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  130. TCL: Time-Dependent Clustering Loss for Optimizing Post-Training Feature Map Quantization for Partitioned DNNs  
Oscar Artur Bernd Berg, Eiraj Saqib Axel Jantsch Irida Shallari Silvia Krug Isaac Sánchez Leal Mattias O’Nils in IEEE Access, vol. 13, pp. 103640-103648, 2025, DOI: https://doi.org/10.1109/ACCESS.2025.3579107  
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