2022 Jahresbericht | Fachartikel KI-EDA Modellfehlerschätzung (en/de): KI-basierte Modellfehlerschätzung macht Simulationen effizienter – KI unterstützt die Entwicklung von Mikrochips
2022 Jahresbericht | Fachartikel SensoMem (en/de): Sensorik zur Online-Überwachung von Membranreaktoren für Dialyseprozesse und In-vitro-Proteinsynthese großer Probenvolumina
Silvia Krug,
Marco Goetze
Sören Schneider
Tino Hutschenreuther
2023 IEEE International Workshop on Metrology for Agriculture and Forestry (MetroAgriFor), Pisa, Italy, November 06-08, 2023, pp. 820-825, DOI: https://doi.org/10.1109/MetroAgriFor58484.2023.10424104
Rikard Graß,
Hannah Boedeker
Marco Hofmann
Martin Schieck
Silvia Krug
Tino Hutschenreuther
Hannes Mollenhauer
2023 IEEE International Workshop on Metrology for Agriculture and Forestry (MetroAgriFor), Pisa, Italy, November 06-08, 2023, pp. 343-347, DOI: https://doi.org/10.1109/MetroAgriFor58484.2023.10424113
Michael Scholles,
Nicole Isserstedt-John
Dirk Kuhlmeier
Martin Jahn
Martin Reuter
Benjamin Saft, Eric Schäfer
Mirjam Skadell, Alexander Zimmer
Ana Leonor H. Lopes
MikroSystemTechnik Kongress 2023, 23. - 25. Oktober 2023, Dresden
Henning Siemen,
Jonas Lienke
Georg Gläser
Elektronik, 21.2023, 18. Oktober 2023, Seite 64 - 67, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2321D