1712 Ergebnisse
Referenz
  1211. An interferometric test station for massive parallel inspection of MEMS and MOEMS  
M. Kujawinska, K. Gastinger M. Jozwik K. Haugholt C. Schäffel S. Beer PHOTONICS LETTERS OF POLAND, VOL. 1 (2), (2009)  
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  1212. Wireless Sensornetzwerke mit Multisensorik in der Gebäudeautomation  
S. Engelhardt, E. Chervakova T.Rossbach WirelessTechnologies Kongress 2009, 29.-30. September 2009, Stuttgart, Germany  
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  1213. Wireless Sensornetzwerke mit Multisensorik in der Gebäudeautomation  
S. Engelhardt, E. Chervakova T. Rossbach WirelessTechnologies Kongress 2009, 29.-30. September 2009, Stuttgart, Germany  
Referenz
  1214. An interferometric test station for massive parallel inspection of passive and active M(O)EMS  
M. Kujawinska, K. Gastinger M. Jozwik K. Haugholt C. Schäffel S. Beer 3rd Topical Meeting on Optical Microsystems, 27-30.09.2009, Capri  
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  1215. Analogwertspeicherung mit Floating-Gates - Speicherzellen und Anwendung  
D. Kirsten, 37. Mikroelektronik-Seminar, 24.09.2009, Erfurt  
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  1216. Basic Design Challenges for Logical Gates Using Non-Standard Technologies or Circuit Concept Approaches  
A. Amar, W. Glauert 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung 'Zuverlässigkeit und Entwurf', Stuttgart, 21.-23.09.2009  
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  1217. Neue Teststrukturen zur Messung von Matching und Alterung an MOS-Transistoren  
M. Meister, D. Nürnbergk Zuverlässigkeit und Entwurf (ZuE 2009), 21. - 23.09.2009, Stuttgart  
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  1218. Energy-optimized Sensor Data Processing  
E. Chervakova, D. Klan T. Rossbach 4th EuroSSC 2009, http://info.ee.surrey.ac.uk/CCSR/EuroSSC/2009/, Proceedings pp. 35-38, 16.-18. September 2009, Centre for Communication Systems Research, The University of Surrey, Guildford, UK  
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  1219. Energy-optimized Sensor Data Processing  
E. Chervakova, D. Klan T. Rossbach 4th EuroSSC 2009, http://info.ee.surrey.ac.uk/CCSR/EuroSSC/2009/, 16-18 of September 2009, Centre for Communication Systems Research, The University of Surrey, Guildford, UK  
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  1220. Der Weg von Mess-/Simulationsergebnissen zum Modell (Model Order Reduction)  
A. Richter, 36. Mikroelektronik-Seminar, 15.09.2009, Erfurt  
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