1712 Ergebnisse
Referenz
  1171. Test von differentiellen 2,4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBeeTM ICs: Grenzen und Möglichkeiten  
B. Bieske, M. Lange S. Beyer 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt  
Referenz
  1172. Programmierbare Präzisionsreferenzspannungsquelle durch Nutzung eines analogen Floating-Gate-Speicherelements  
D. Kirsten, Dr. D. Nuernbergk 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt, in Proceedings  
Referenz
  1173. Programmierbare Präzisionsreferenzspannungsquelle durch Nutzung eines analogen Floating-Gate-Speicherelements  
D. Kirsten, Dr. D. Nuernbergk 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt  
Referenz
  1174. Hierarchische Entwurfsmethodik mit automatischer Bottom-Up-Topologiemodifikation und spezifikationsgetriebener Dimensionierung. (Kooperation der TU Ilmenau & IMMS GmbH).  
D. Krauße, E. Schäfer Prof. Dr. R. Sommer Dr. E. Hennig 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt, in Proceedings  
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  1175. A CMOS/BiCMOS Current Amplifier Topology for Optoelectronic Receiver Applications - Symbolic Analysis and Design Rules  
Dr. B. Dimov, Dr. C. Lang Dr. E. Hennig 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt, in Proceedings  
Referenz
  1176. Gradientenbasierte Eigenwertoptimierung zur Frequenzgangskompensation linearer Analogschaltungen. (Kooperation der TU Ilmenau & IMMS GmbH)  
E. Schäfer, D. Krauße Prof. Dr. R. Sommer Dr. E. Hennig 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt, in Proceedings  
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  1177. Testfeld zur Charakterisierung von Laserspot-Größen zur Untersuchung und Modellierung des HF-Verhaltens von pin-Fotodioden  
M. Reinhard, U. Liebold G. Methner M. Meister Dr. D. Nuernbergk 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt, in Proceedings  
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  1178. Testfeld zur Charakterisierung von Laserspot-Größen zur Untersuchung und Modellierung des HF-Verhaltens von pin-Fotodioden  
M. Reinhard, U. Liebold G. Methner M. Meister Dr. D. Nuernbergk 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt  
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  1179. Evaluation of Low Leakage Currents using a Floating Gate Transistor  
D. Kirsten, Dr. D. Nuernbergk International Conference on Ultimate Limits on Silicon 2010, 17.03.-19.03.2010, Glasgow, United Kingdom: in Proccedings of the 11th ULIS  
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  1180. Evaluation of Low Leakage Currents using a Floating-Gate Transistor  
D. Kirsten, Dr. D. Nuernbergk Ultimate Integration on Silicon, 17.03.-19.03.2010, Glasgow, United Kingdom  
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