1712 Ergebnisse
Referenz
  1251. Entwurf von SC-Schaltungen - Grundlagen und grundlegende Probleme  
B. Dimov, 20. Mikroelektronik-Seminar, 02.04.2009, Erfurt  
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  1252. PXI - basierte Testplattformen für die Halbleiterindustrie  
K. Förster, 9. ATE - Technologietag, 1. April 2009, Radolfzell  
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  1253. EEPROM-Speicherzelle und ihr Auswahltransistor  
St. Richter, D. Nuernbergk S. Richter D. Kirsten Patentnr. 10 2004 011 858  
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  1254. In-Network Detection of Anomaly Regions in Sensor Networks with Obstacles  
C. Franke, M. Karnstedt D. Klan M. Gertz K.-U. Sattler E. Chervakova Computer Science - Research and Development, Special issue 'BTW 2009 Best Papers”, Volume 24, Number 3, ISSN 1865-2034, Springer, 2009  
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  1255. In-Network Detection of Anomaly Regions in Sensor Networks with Obstacles  
C. Franke, M. Karnstedt D. Klan M. Gertz K.-U. Sattler W. Kattanek 13. GI-Fachtagung Datenbanksysteme für Business, Technologie und Web, 2.- 6.März 2009, Münster  
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  1256. Drahtlose Sensor-Aktor-Netzwerke  
T. Rossbach, E. Chervakova Bericht zum Projekt CBS - Costumer Bautronic Systems, Arbeitsgruppe 3, Nutzerintegrierte operative Gebäudesteuerung FKZ BMBF-03WKBD3C, CeBit 2009, 2. März 2009, Hannover  
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  1257. Parametric Measurement Unit und Pinelektronik für ein modulares Mixed Signal Testsystem  
A. Rolapp, R. Paris 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 86, 15. - 17. Februar 2009, Bremen  
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  1258. Test differentieller Parameter von HF-Komponenten im GHz-Bereich  
B. Bieske, 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 35, 15. - 17. Februar 2009, Bremen  
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  1259. Einsatz eines Modularen Test-Systems für Mixed Signal Tests  
I. Gryl, V. Schulze 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 129, 15. - 17. Februar 2009, Bremen  
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  1260. Test opto-elektronischer Schaltungen unter Verwendung von PXI-Testsystemen  
M. Meister, A. Rolapp I. Gryl 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 81, 15. - 17. Februar 2009, Bremen  
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