1251. Das Internet der Dinge - Ipv6 in drahtlosen Sensor-Aktor-Netzwerken   T. Rossbach, 4. Silicon Saxony Day, 12.-13. Mai 2009, Dresden  

  1252. Test und Charakterisierung von MEMS mittels dynamischer Messung am Beispiel von Membranstrukturen und Resonatoren   St. Michael, 4. Silicon Saxony Day, 12.-13. Mai 2009, Dresden  

  1253. Strukturauswahl von Positioniersystemen durch Betrachtung der Funktionstopologie   T. Erbe, R. Theska A. Frank F. Spiller VDI / VDE - Tagung 'Mechatronik 2009', 12. - 13. Mai 2009, Wiesloch  

  1254. Schutz der Beschäftigten vor Gefährdungen durch Lärm im Sinne der Lärm- und Vibrations-Arbeitsschutzverordnung mithilfe Personalisierter Miniaturisierter Lärm-Dosimeter (PMD)   A. Müller, T. Schmidt T. Elste M. Sachs H. Töpfer H. Witte Fachzeitschrift Lärmbekämpfung, Springer VDI Verlag, 3. Mai 2009  

  1255. Pre- und Postlayout Analysis of Switched-Capacitor Circuits   A. Amar, B. Dimov Ch. Lang J. Nowak T. Reich 22. Mikroelektronik-Seminar, 30.04.2009, Erfurt  

  1256. Parametric Measurement Unit and Pin Electronics for modular Mixed Signal Test Systems   A. Rolapp, R. Paris Chip, Packaging, Design, Simulation and Test - International Conference, Workshop and Table-top Exhibition 'Semiconductor Conference Dresden 2009' (SCD 2009), 29. - 30. April 2009, Dresden  

  1257. Application of a Modular Test System for Mixed Signal Tests   I. Gryl, V. Schulze Chip, Packaging, Design, Simulation and Test ? International Conference, Workshop and Table-top Exhibition 'Semiconductor Conference Dresden 2009' (SCD 2009), 29. - 30. April 2009, Dresden  

  1258. Parameter Identification of Piezoelectric AlGaN/GaN Beam Resonators by Dynamic Measurements   St. Michael, K. Brueckner F. Niebelschuetz K. Tonisch C. Schäffel 10th EuroSimE 2009, 26.-28. April, Delft, Netherlands  

  1259. One-step autozeroing two-stage amplifier with floating-gate memory cells   D. Kirsten, V. Schulze D. Nuernbergk DATE 2009, 20.-24. April 2009, Nizza, France  

  1260. A Novel Low-Voltage Bandgap Reference Topology   M. Isikhan, 21. Mikroelektronik-Seminar, 16.04.2009, Erfurt