Ihr Kontakt zur Mikroelektronik

Mikroelektronik-Team am IMMS in Erfurt 2022. Foto: IMMS.

Ihr Kontakt zur Mikroelektronik

Kontakt

Eric Schäfer, M. Sc.

Leiter Mikroelektronik und Institutsteil Erfurt

eric.schaefer(at)imms.de+49 (0) 361 663 25 35

Eric Schäfer und sein Team erforschen Integrierte Sensorsysteme und hier insbesondere CMOS-basierte Biosensoren, ULP-Sensorsysteme und KI-basierte Entwurfs- und Testautomatisierung. Die Ergebnisse fließen in die Forschung an den Leitthemen Sensorsysteme für die In-vitro-Diagnostik und RFID-Sensoren ein. Er unterstützt Sie mit Dienstleistungen rund um die Entwicklung integrierter Schaltungen und mit KI-basierten Methoden für komplexe IC-Entwürfe.

Themenbereich Mikroelektronik

Unser Mikroelektronik-Team ist international aufgestellt und besteht aus Spezialisten für:

Analog IC Design
Digital IC Design
Mixed-Signal Verification
IC Layout
Design Methodology
EDA Support
Business Development

Die meisten unserer wissenschaftlichen Mitarbeiter haben einen akademischen Abschluss in Elektrotechnik und Informationstechnik, Mikroelektronik und Ingenieurinformatik oder auch in Fachrichtungen wie Biomedizinische Technik oder Festkörperphysik.

Pro Jahr bringen wir ca. zehn ASICs für die Forschung und für Industriekunden auf den Weg und betreuen ca. 15 Studentinnen und Studenten an unseren beiden Standorten in Erfurt und Ilmenau.

Wir unterstützen Sie mit Forschung und Entwicklung auf folgenden Gebieten

Kernthema

CMOS-basierte Biosensoren

Wir erforschen CMOS-integrierte Transducer und deren Interaktion mit biologischen Rezeptoren. Sie bieten das Potenzial für präzise, digitale und kostengünstige Point-of-Care-Tests und können Eigenschaften im molekularen Maßstab erfassen.

Dienstleistung

IC-Entwurfsmethoden

Wir entwickeln für Ihre System-on-Chip- und FPGA-Entwürfe neue KI-basierte Methoden und Werkzeuge, um die steigende Komplexität integrierter Systeme zu beherrschen und damit die Leistungsfähigkeit weiter zu steigern.

Dienstleistung

Integrierte Schaltungen

Wir entwickeln und realisieren für Sie anwendungsspezifische integrierte Schaltungen (ASICs) in CMOS-, BiCMOS- und SOI-Technologien. Wir realisieren fehlerfreie ASICs mit unseren Erstentwürfen.

Forschungsfeld

Integrierte Sensorsysteme

Hier erforschen wir in Halbleitertechnologien gefertigte miniaturisierte Systeme aus mikroelektronischen Komponenten für sensorische Anwendungen sowie Methoden, um diese hochkomplexen Systeme effizient und sicher zu entwerfen.

Kernthema

KI-basierte Entwurfs- und Testautomatisierung

Wir forschen daran, den Entwicklungsprozess von integrierten Sensorsystemen mit KI sicher und kostengünstiger zu machen. KI kann die Entwickler im Prozess unterstützen, Fehler zu vermeiden und informelles Wissen automatisiert anzuwenden.

Leitanwendung

Sensorsysteme für die In-vitro-Diagnostik

Hier entwickeln wir Sensorsysteme für die In-vitro-Diagnostik, die ein individuelles, dezentrales Gesundheitsmonitoring für alle mit elektronischen Schnelltests ermöglichen.

Zugehörige Inhalte

Referenz

Prof. Dr.-Ing. Patrick Mäder, Technische Universität Ilmenau

„Für uns zeigt die Kooperation, wie wichtig das IMMS für einen Ergebnistransfer von der Grundlagenforschung in die Praxis ist.“

Referenz

Christian Paintz, Melexis

„Insbesondere bei der Auswertung von Messdaten hat das IMMS eindrucksvoll demonstriert, dass ein lernender Algorithmus der manuellen Auswertung ebenbürtig ist – bei gleichzeitig großer Zeitersparnis. Auch die Methoden zur Schaltungs- und Layoutanalyse verfolgen wir weiter, da wir auch hier ein großes Forschungs- und Anwendungspotential sehen.“

Referenz

Sylvo Jäger, microsensys GmbH

„Wir schätzen die gemeinsame Zusammenarbeit mit dem IMMS seit mehreren Jahren. Es stellt für uns einen innovativen regionalen Technologiepartner dar, der uns bei der Umsetzung von Entwicklungsaufgaben im Bereich ASIC-Design, aber auch koordinierend bei der Durchführung von industriellen und öffentlich geförderten Verbundprojekten unterstützen kann.“

Referenz

Referenz

Dr.-Ing. Dirk Nuernbergk, Melexis

„Das IMMS hat eine neue Methode entwickelt und in einem Programm implementiert, das automatisch kritische parasitäre Elemente beim Schaltungsentwurf findet und bewertet. Die zeitaufwendige Layout-Optimierung kann so stark beschleunigt werden. Wir konnten in kürzester Zeit die Problemstellen dreier Schaltungen identifizieren.“

Referenz