1181. Entwurf eines PDICs für 12fach Blu-ray Disc Schreib- und Leselaufwerke   S. Lange, H. Pleß Dr. E. Hennig 12. Workshop Analogschaltungen, 11.03.-12.03.2010, Ulm  

  1182. Entwurf eines PDICs für 12fach Blu-ray Disc Schreib- und Leselaufwerke   S. Lange, 45. Mikroelektronik-Seminar, 09.03.2010, Erfurt  

  1183. From SystemC to Real Hardware   K. Agla, Date 2010 - Design, Automation & Test in Europe, 08.03.-12.03.2010, Dresden  

  1184. Mobile Audio Dosimeter for the prevention of noise-induced hearing impairment   T. Elste, Embedded World Conference, 03.03.2010, Nürnberg  

  1185. Mobile Audio Dosimeter for the prevention of noise-induced hearing impairments   T. Elste, M. Sachs in Proceedings Embedded World 2010, 02.03.-04.03.2010, Nürnberg  

  1186. Das Parallelisieren von Motor- und Regelungsentwurf reduziert Entwicklungszeit und -kosten   Dr. Ch. Schäffel, M. Katzschmann Erschienen in MSR-Magazin, Automatisierungstechnik für Fertigung und Prozess, 03/2010  

  1187. Charakterisierung von HF-Zellen verschiedener Technologien unter Nutzung modularer PXI-Testsysteme   B. Bieske, K. Gille 22nd ITG/GI/GMM Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  

  1188. Entwurf und Einsatzerfahrungen eines flexibel konfigurierbaren PXI Testsystems für on-wafer Messungen im Halbleiterbereich   I. Gryl, G. Kropp R. Paris 22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  

  1189. Entwurf und Einsatzerfahrungen eines flexibel konfigurierbaren PXI-Testsystems für on-wafer Messungen im Halbleiterbereich   I. Gryl, G. Kropp R. Paris 22nd ITG/GI/GMM Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  

  1190. Erhöhung der Testqualität für optoelektrische Schaltungen durch Charakterisierung des Strahlprofils   M. Reinhard, M. Meister U. Liebold T. Cohrs Dr. D. Nuernbergk 22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn