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  1161. Annual Report 2002  
Annual report 2002 | IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH)  
Referenz
  1162. High-Frequency Performance of GaN High-Electron Mobility Transistors on 3C-SiC/Si Substrates With Au-Free Ohmic Contacts  
Wael Jatal, Uwe Baumann Katja Tonisch Frank Schwierz Jörg Pezoldt Electron Device Letters, IEEE, Volume:36, Issue: 2, Page(s) 123-125, DOI: http://dx.doi.org/10.1109/LED.2014.2379664  
Referenz
  1163. S4ECoB  
Die eingebettete Plattform des IMMS zur Audiosignalverarbeitung trägt zu energieeffizienteren Gebäuden bei.  
Pressemitteilungen
  1164. Intelligente Strommesszange erfasst Störströme in Industrieanlagen  
Vorgestellt vom IMMS auf der embedded world 2015, Halle 4, Stand 160 (OSADL-Gemeinschaftsstand).  
Referenz
  1165. MUSIK  
Das IMMS hat MEMS-Eigenschaften untersucht, modelliert und validiert, um Grundblöcke für eine universelle MEMS-Designmethodik zu entwickeln.  
Referenz
  1166. Integriertes elektrostatisches MEMS-Energy-Harvesting-Modul  
Benjamin Saft, Fachzeitschrift Mechatronik 1-2, 2015  
Referenz
  1167. sMobiliTy  
Das einfach installierbare drahtlose Sensorsystem des IMMS trägt dazu bei, die Elektromobilität voranzubringen.  
Referenz
  1168. Vibration energy generators for low-frequency spectral excitations  
Bianca Leistritz, Michael Katzschmann Hannes Toepfer EUROSENSORS 2014, the 28th European Conference on Solid-State Transducers, in Procedia Engineering, Volume 87, 2014, Pages 420 – 423, http://www.sciencedirect.com, DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.proeng.2014.11.283  
Referenz
  1169. Perforated plates of inertial sensors – modeling by effective material properties  
Steffen Michael, Astrid Frank G. Hölzer G. Lorenz EUROSENSORS 2014, the 28th European Conference on Solid-State Transducers, in Procedia Engineering, Volume 87, 2014, Pages 480 – 483, http://www.sciencedirect.com, DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.proeng.2014.11.400  
Referenz
  1170. MEMS-T-Lab  
Im MEMS-T-Lab nimmt das IMMS hochkomplexe teilautomatisierte Messungen für komplette MEMS-Wafer vor  
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