1201. Testmöglichkeiten auf Waferebene am IMMS   M. Meister, 49. Mikroelektronik-Seminar, 05.05.2010, Erfurt  

  1202. X-FAB PLL Demonstrator - Increase in design efficiency by the use of high abstraction level modelling and mixed-level simulation   A. Jäger, K. Gille 4. edaWorkshop, 04.05.-05.05.2010, Hannover  

  1203. From SystemC to Real Hardware   K. Agla, 4. edaWorkshop, 04.05.-05.05.2010, Hannover  

  1204. Optimierung industrieller Echtzeitanwendungen auf Basis von Open-Source-Technologien   S. Schramm, 4. Innovationsforum 'Software Saxony', 23.04.2010, Dresden  

  1205. Modulare Systemplattform für drahtlose Sensornetzwerke   S. Engelhardt, E. Chervakova W. Kattanek T. Rossbach 4. Innovationsforum 'Software Saxony', 23.04.2010, Dresden  

  1206. Software-based energy management for wireless sensor systems   W. Kattanek, 4. Innovationsforum 'Software Saxony', 23.04.2010, TU Dresden  

  1208. Design & Charakterisierung von HF-IPs verschiedener Technologien unter Nutzung modularer PXI-Testsysteme bis 6GHz   B. Bieske, RADCOM 2010-Radar, Communication and Measurement, 21.04.-22.04.2010, Hamburg  

  1209. Next generation test equipment for micro-production   K. Gastinger, M. Kujawinska U. Zeitner C. Gorecki Dr. Ch. Schäffel S. Beer R. Moosburger M. Pizzi Photonics Europe 2010, 12.04-16.04.2010, Brüssel, Belgien  

  1210. Superconductive Digital Magnetometers with Single-Flux-Quantum Electronics   P. Febvre, Dr. T. Reich IEICE TRANSACTIONS on Electronics, Vol.E93-C, No.4, pp.445-452. Tokyo, Japan: Maruzen Co., Ltd