1201. Erhöhung der Testqualität für optoelektrische Schaltungen durch Charakterisierung des Strahlprofils   M. Reinhard, M. Meister U. Liebold T. Cohrs Dr. D. Nuernbergk 22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  

  1202. GALILEO - Regionale Initiativen in Deutschland & Konvergenz zur Identifikation   Dr. W. Sinn, AMA-Wissenschaftsrat, 23.02.2010, Berlin  

  1203. A New Low Voltage Bandgap Reference Topology   M. Isikhan, T. Reich A. Richter E. Hennig International Conference on Electronics Circuits and Systems, 13.-16. Dezember, 2009, Hammamet, Tunesien  

  1204. A Post-Layout Optimization Method With Automatic Device Type Selection for BiCMOS Analog Circuits   T. Reich, B. Dimov Ch. Lang V. Boos E. Hennig International Conference on Electronics Circuits and Systems, 13.-16. Dezember, 2009, Hammamet, Tunesien  

  1205. Verkehr und Logistik- Zukunftsprojekte für RFID   W. Sinn, 3. Dresdner RFID-Symposium, 10. - 11. Dezember 2009, Dresden  

  1206. Design infrastructure for Rapid Single Flux Quantum circuits   H. Töpfer, T. Ortlepp Cryogenics Volume 49, Issue 11, November 2009, 643-647, ISSN 0011-2275, www.elsevier.com/locate/cryogenics  

  1207. Entwicklungstrends von Sensortechnologien   W. Sinn, 2. ELMUG- Branchentag, 18.November 2009, Erfurt  

  1208. Parameter Identification of MEMS Membrane and Beam Structures by Modal Analysis and Dynamic Measurements   St. Michael, ANSYS Conference & 27. CADFEM Users' Meeting, 18. - 20. November 2009, Leipzig  

  1209. Sensor-Trends 2014, Trends in zukunftsorientierten Sensortechnologien   V. Großer, D. Heydenbluth R. Moos D. Rein J. Sauerer Th. Simmons W. Sinn R. Werthschützky J. Wilde AMA-Fachverband für Sensorik e.V, November 2009, Berlin  

  1210. Entwurf eines schnellen Operationsverstärkers in einer 0,35-µm CMOS Technologie   J. Tan, 40. Mikroelektronik-Seminar, 16.11.2009, Erfurt