1712 Ergebnisse
Referenz
  1121. Design & Charakterisierung von HF-IPs verschiedener Technologien unter Nutzung modularer PXI-Testsysteme bis 6GHz  
B. Bieske, K. Gille Erschienen in HF-Report, 11.-12.2010, München, Baltz-Verlag  
Referenz
  1123. Themenkreis Virtual Test und automatische Testplangenerierung aus ATML  
D. Glaser, P. Lu K. Helmreich I. Gryl M. Meister A. Lechner M. Jegler Z. Kiss Virtuelle Instrumente in der Praxis VIP 2010, 27.10.-28.10.2010, München, Proceedings  
Referenz
  1124. Stressidentifikation dünner Membranstrukturen mittels dynamischer Messungen  
S. Michael, S. Voigt Dr. R. Knechtel 10. Chemnitzer Fachtagung Mikromechanik & Mikroelektronik, 20.10.-21.10.2010, Chemnitz  
Referenz
  1125. Konvergenz von Navigation, Identifikation und Sensorik  
Dr. W. Sinn, Dr. T. Hutschenreuther 10. Leibniz Conference of Advanced Science, 07.-08.10.2010, Lichtenwalde: Sensorsysteme 2010  
Referenz
  1126. OKTOPUS: Anwendungsfelder Halbleitertest  
Dr. K. Förster, Projektabschluss-Meeting, 05.10.-07.10.2010, Randolfzell  
Referenz
  1127. PRIMOS  
Das IMMS lieferte Beiträge, um Schwingquarze in Mikroprozessoren künftig durch MEMS-Taktgeneratoren ersetzen zu können.  
Referenz
  1128. Distributed in-house metering via self-organizing wireless networks  
M. Götze, T. Rossbach Dr. A. Schreiber S. Nicolai H. Rüttinger Internationales Wissenschaftliches Kolloquium (IWK), Technische Universität Ilmenau, 14.09.2010, Ilmenau  
Referenz
  1129. Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen  
D. Kirsten, A. Rolapp Dr. D. Nuernbergk 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth  
Referenz
  1130. Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen  
D. Kirsten, A. Rolapp Dr. D. Nuernbergk 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth  
Suchergebnis 1121 bis 1130 von 1712