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261. Energieautarkes NFC-Messsystem zum Auslesen von LFA-Teststreifen

Markus Ismer, Alexander Rolapp Björn Bieske 21. ITG/GMA Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2022, 10.-11. Mai 2022, Nürnberg, Germany

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262. D4024A: CMOS image sensor with high dynamic-range for time-resolved fluorescence with Europium

D4024A: CMOS image sensor with high dynamic-range for time-resolved fluorescence with Europium CMOS image sensor with high dynamic-range for time-resolved fluorescence with Europium www.imms.de/d4024a Performances of the imager Dye decay time > 1 µs Time resolution 20 ns Frame rate 24 fps Pixel fill factor 59 % Photo diode dark current 200 e–/s Charge conversion gain 27 µV/e– Full-well capacity 53 ke– D4024A DTEST1 DTEST2 DTEST3 ATEST1 ATEST2 SYNC1 SYNC2 I2C TRTXL TRTXR TRTD VRES VDDH VDDA Row Driver Heater Lock-In Pixel Array (256x128) VSSD Column ADC High Speed…

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263. Jahresbericht 2020, Überblick zu Fachartikeln

Jahresbericht 2020, Überblick zu Fachartikeln

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264. Elektrochemische Sensoranordnung und Verwendung eines fotoelektrischen Sensors zur Bestimmung von Ladungsträgern in einem Medium

Alexander Hofmann, DE 10 2020 123 949 A1

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265. Networks

Networks: Wherever possible, we draw in regionally available technologies into our research and thus contribute to the networking of companies, with the aim of exploiting the innovation potential of small and medium-sized enterprises.

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266. VE-VIDES – AP2, Design, Architektur und Modellierung, Vertrauenswürdig?

Georg Gläser, Digitale Fachkonferenz „Vertrauenswürdige Elektronik 2022“, 9. - 10. März 2022, online

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267. VE-ARiS – „Alberich“ – Machine-Learning-basierte Vorhersage der Kopierbarkeit von ASICs

Florian Kögler, Digitale Fachkonferenz „Vertrauenswürdige Elektronik 2022“, 9. - 10. März 2022, online

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268. Echtzeitanalyse und Prognose des Wasserhaushalts im Weinbau

Hannes Mollenhauer, Martin Schieck Silvia Krug Valentin Knitsch IM+io, Fachmagazin, März 2022, Heft 01, ISSN 1616-1017, Seite 32 - 35

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269. Messumgebung zur mixed-signal Echtzeit-Parametererfassung bei Lebensdauertests

Michael Meister, Björn Bieske Ingo Gryl Dagmar Kirsten 34. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022), 27. Februar - 1. März 2022, Bremerhaven, Germany

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270. Intelligente Layoutverarbeitung: KI für ASIC- und PCB-Layouts

Georg Gläser, Julian Kuners Elektronik, 03.2022, 9. Februar 2022, Seite 42 - 45, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2203D