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Reference
  252. Energieautarkes NFC-Messsystem zum Auslesen von LFA-Teststreifen  
Markus Ismer, Alexander Rolapp Björn Bieske 21. ITG/GMA Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2022, 10.-11. Mai 2022, Nürnberg, Germany  
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  253. D4024A: CMOS image sensor with high dynamic-range for time-resolved fluorescence with Europium  
D4024A: CMOS image sensor with high dynamic-range for time-resolved fluorescence with Europium CMOS image sensor with high dynamic-range for time-resolved fluorescence with Europium www.imms.de/d4024a Performances of the imager Dye decay time > 1 µs Time resolution 20 ns Frame rate 24 fps Pixel fill factor 59 % Photo diode dark current 200 e–/s Charge conversion gain 27 µV/e– Full-well capacity 53 ke– D4024A DTEST1 DTEST2 DTEST3 ATEST1 ATEST2 SYNC1 SYNC2 I2C TRTXL TRTXR TRTD VRES VDDH VDDA Row Driver Heater Lock-In Pixel Array (256x128) VSSD Column ADC High Speed…  
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  254. Jahresbericht 2020, Überblick zu Fachartikeln  
Jahresbericht 2020, Überblick zu Fachartikeln  
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  256. Networks  
[Translate to English:] Networks: Wherever possible, we draw in regionally available technologies into our research and thus contribute to the networking of companies, with the aim of exploiting the innovation potential of small and medium-sized enterprises.  
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  257. VE-VIDES – AP2, Design, Architektur und Modellierung, Vertrauenswürdig?  
Georg Gläser, Digitale Fachkonferenz „Vertrauenswürdige Elektronik 2022“, 9. - 10. März 2022, online  
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  258. VE-ARiS – „Alberich“ – Machine-Learning-basierte Vorhersage der Kopierbarkeit von ASICs  
Florian Kögler, Digitale Fachkonferenz „Vertrauenswürdige Elektronik 2022“, 9. - 10. März 2022, online  
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  259. Echtzeitanalyse und Prognose des Wasserhaushalts im Weinbau  
Hannes Mollenhauer, Martin Schieck Silvia Krug Valentin Knitsch IM+io, Fachmagazin, März 2022, Heft 01, ISSN 1616-1017, Seite 32 - 35  
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  260. Messumgebung zur mixed-signal Echtzeit-Parametererfassung bei Lebensdauertests  
Michael Meister, Björn Bieske Ingo Gryl Dagmar Kirsten 34. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022), 27. Februar - 1. März 2022, Bremerhaven, Germany  
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