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Referenz
  281. Validierung KI-basierter Simulationsmethoden im Chip-Entwurf, Testbench in Hardware  
Tom Reinhold, Elektronik, 25.2023, 29. November 2023, Seite 60 - 64, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2325D  
Referenz
  282. Unconventional, lateral measurements with laser focus sensors for nanopositioning stages  
Davi Anders Brasil, Michael Katzschmann Steffen Hesse Ludwig Herzog T. Fröhlich T. Kissinger euspen Special Interest Group Meeting, "Micro/Nano Manufacturing", 28. - 29. November 2023, Ilmenau, Germany  
Veranstaltung
  283. euspen SIG: Micro/Nano Manufacturing 2023  
euspen Special Interest Group Meeting: Micro/Nano Manufacturing 2023  
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  284. 2022 Jahresbericht | Fachartikel K4PNP+Z (en/de)  
2022 Jahresbericht | Fachartikel K4PNP+Z (en/de): Neue Generation von Hubmodulen zur vertikalen Nanopositionierung mit bis zu 25 mm Verfahrweg  
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  285. 2022 Jahresbericht | Fachartikel Vibrometrie für MEMS (en/de)  
2022 Jahresbericht | Fachartikel Vibrometrie für MEMS (en/de): Applikationsmöglichkeiten  
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  286. 2022 Jahresbericht | Fachartikel QuantumHub Thüringen (en/de)  
2022 Jahresbericht | Fachartikel QuantumHub Thüringen (en/de): Einzelphotonenzählung und pikosekundenschnelle Messungen für die Forschung an Quantentechnologien  
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  287. 2022 Jahresbericht | Fachartikel KI-EDA WTF Hardware Fuzzer (en/de)  
2022 Jahresbericht | Fachartikel KI-EDA WTF Hardware Fuzzer (en/de): Automatisiertes Testen mikroelektronischer Schaltungen auf Fehler – Methode aus der Softwareentwicklung findet Bugs in Hardware  
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  288. 2022 Jahresbericht | Fachartikel Trib.US (en/de)  
2022 Jahresbericht | Fachartikel Trib.US (en/de): Mobiles Multisensorik-Prüfgerät zur Instandhaltung von Wälzlagern  
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  289. 2022 Jahresbericht | Fachartikel KI-EDA Modellfehlerschätzung (en/de)  
2022 Jahresbericht | Fachartikel KI-EDA Modellfehlerschätzung (en/de): KI-basierte Modellfehlerschätzung macht Simulationen effizienter – KI unterstützt die Entwicklung von Mikrochips  
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  290. 2022 Jahresbericht | Fachartikel KI-EDA AMS ASIC Scope (en/de)  
2022 Jahresbericht | Fachartikel KI-EDA AMS ASIC Scope (en/de): Testbench in Hardware: AMS ASIC Scope zur Validierung KI-basierter Simulationsmethoden im Chip-Entwurf  
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