1710 Ergebnisse
Referenz
  261. VE-VIDES – AP2, Design, Architektur und Modellierung, Vertrauenswürdig?  
Georg Gläser, Digitale Fachkonferenz „Vertrauenswürdige Elektronik 2022“, 9. - 10. März 2022, online  
Referenz
  262. VE-ARiS – „Alberich“ – Machine-Learning-basierte Vorhersage der Kopierbarkeit von ASICs  
Florian Kögler, Digitale Fachkonferenz „Vertrauenswürdige Elektronik 2022“, 9. - 10. März 2022, online  
Referenz
  263. Echtzeitanalyse und Prognose des Wasserhaushalts im Weinbau  
Hannes Mollenhauer, Martin Schieck Silvia Krug Valentin Knitsch IM+io, Fachmagazin, März 2022, Heft 01, ISSN 1616-1017, Seite 32 - 35  
Referenz
  264. Messumgebung zur mixed-signal Echtzeit-Parametererfassung bei Lebensdauertests  
Michael Meister, Björn Bieske Ingo Gryl Dagmar Kirsten 34. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022), 27. Februar - 1. März 2022, Bremerhaven, Germany  
Referenz
  265. Intelligente Layoutverarbeitung: KI für ASIC- und PCB-Layouts  
Georg Gläser, Julian Kuners Elektronik, 03.2022, 9. Februar 2022, Seite 42 - 45, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2203D  
Referenz
  266. Machine-Learning-basierte Messdatenanalyse für ASICs. Testen auf der Überholspur  
Tom Reinhold, Georg Gläser Elektronik, 01/02.2022, 26. Januar 2022, Seite 46 - 48, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2201D  
Pressemitteilungen
  267. Schnelles Nachweissystem für Multiresistenzen bei Tuberkuloseinfektionen  
Acht Partner aus Forschung und Industrie starten BMBF-Projekt FluoResYst  
Pressemitteilungen
  268. Von einem der weltweit ersten USB-Hubs zur KI  
Video auf YouTube ansehen. Video 25 Jahre IMMS – Transfers aus der Grundlagenforschung in die Industrie  
Referenz
  269. Evaluation of 2D-/3D-Feet-Detection Methods for Semi-Autonomous Powered Wheelchair Navigation  
Cristian Vilar Giménez, Silvia Krug Faisal Z. Qureshi Mattias O’Nils Journal of Imaging, vol. 7, no. 12, p. 255, Nov. 2021, DOI: https://doi.org/10.3390/jimaging7120255  
Mediathek
  270. 2020 Jahresbericht | Fachartikel IntelligEnt – Test (en/de)  
2020 Jahresbericht | Fachartikel IntelligEnt – Test (en/de): Testen auf der Überholspur – Machine Learning beschleunigt Messdaten-Analyse für ASICs um ein Vielfaches  
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