2146 Ergebnisse
Referenz
  241. VE-ARiS: Alberich und die Tarnkappenfabrik. SKAW – Schaltungskopierbarkeitsanalysewerkzeug  
Adrian Pitterling, Florian Kögler Georg Gläser Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024, 4. - 5. Juni 2024, München  
Referenz
  242. What The Fuzz (WTF): A Framework for Fuzz Testing ASIC Designs  
Henning Siemen, Georg Gläser Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024, 4. - 5. Juni 2024, München  
Veranstaltung
  243. Tage der vertrauenswürdigen Elektronik 2024  
Ergebnispräsentationen der Forschungsprojekte der Förderrichtlinien für vertrauenswürdige Elektronik (ZEUS) und zukunftsfähige Spezialprozessoren und Entwicklungsplattformen (ZuSE) des Bundesministeriums für Bildung und Forschung (BMBF)  
Veranstaltung
  244. IEEE RFID 2024  
Eine kleine Platine mit vergossenem Chip. 18th Annual International Conference on RFID  
Referenz
  245. A Charge Pump System with Controlled Input Impedance for Optimized RFID Energy Harvesting  
Rohit Kesharwani, Andre Jäger Martin Grabmann David Schreiber Georg Gläser Hani Abdullah Eric Schäfer 2024 IEEE International Conference on RFID (RFID), Boston, MA, USA, June 4-6, 2024, DOI: https://doi.org/10.1109/RFID62091.2024.10582749  
Veranstaltung
  246. ISSW 2024  
Leiterplatte mit Mikroelektronik-Chip in einem Gehäuse mit Mikrofluidik-Kanälen. The International SPAD Sensor Workshop & SPAD Sensor School  
Referenz
  247. TEEMSC – Trainable Energy Efficient Machine Diagnosis using Singular Values and Canonical Crosscorrelation  
Rick Pandey, Sebastian Uziel Tino Hutschenreuther Silvia Krug IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 and IoT, Florence, Italy, May 29-31, 2024, DOI: https://doi.org/10.1109/MetroInd4.0IoT61288.2024.10584173  
Veranstaltung
  248. IEEE MetroInd4.0&IoT 2024  
Nahaufnahme einer Fräsmaschine, an die eine etwa 2 x 2 cm kleine kabellose Platine mit Sensoren und einer leuchtenden LED gehalten wird. 2024 IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 & IoT  
Referenz
  249. Investigations on tip-based large area nanofabrication and nanometrology using a planar nanopositioning machine (NFM-100)  
Jaqueline Stauffenberg, Johannes Belkner Denis Dontsov Ludwig Herzog Steffen Hesse Ivo W Rangelow Ingo Ortlepp Thomas Kissinger Eberhard Manske 2024 Meas. Sci. Technol. 35 085011, DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6501/ad4668  
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  250. Effect of spent mushroom compost mulch and irrigation treatment on growth, yield and fruit quality of sweet cherry in a summer-dry climate  
Martin Penzel, Claudia Kuhaupt Maria Bamberg Silvia Krug European Horticulture Congress EHC, Symposia „Fruit Production Systems for Sustainable and Resilient Development“, Bucharest, Romania, May 12-16, 2024  
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