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  321. Energieautarkes NFC-Messsystem zum Auslesen von LFA-Teststreifen  
Markus Ismer, Alexander Rolapp Björn Bieske 21. ITG/GMA Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2022, 10.-11. Mai 2022, Nürnberg, Germany  
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  322. D4024A: CMOS image sensor with high dynamic-range for time-resolved fluorescence with Europium  
D4024A: CMOS image sensor with high dynamic-range for time-resolved fluorescence with Europium CMOS image sensor with high dynamic-range for time-resolved fluorescence with Europium www.imms.de/d4024a Performances of the imager Dye decay time > 1 µs Time resolution 20 ns Frame rate 24 fps Pixel fill factor 59 % Photo diode dark current 200 e–/s Charge conversion gain 27 µV/e– Full-well capacity 53 ke– D4024A DTEST1 DTEST2 DTEST3 ATEST1 ATEST2 SYNC1 SYNC2 I2C TRTXL TRTXR TRTD VRES VDDH VDDA Row Driver Heater Lock-In Pixel Array (256x128) VSSD Column ADC High Speed…  
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  323. Jahresbericht 2020, Überblick zu Fachartikeln  
Jahresbericht 2020, Überblick zu Fachartikeln  
Über uns
  324. Netzwerke  
Netzwerke: Wir binden möglichst regional verfügbare Technologien in die Forschungsarbeiten ein und tragen so zur Vernetzung von Unternehmen bei, mit der das Innovationspotenzial von kleinen und mittleren Unternehmen ausgeschöpft werden soll.  
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  325. DE 10 2020 123 949  
Elektrochemische Sensoranordnung und Verwendung eines fotoelektrischen Sensors zur Bestimmung von Ladungsträgern in einem Medium  
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  326. VE-VIDES – AP2, Design, Architektur und Modellierung, Vertrauenswürdig?  
Georg Gläser, Digitale Fachkonferenz „Vertrauenswürdige Elektronik 2022“, 9. - 10. März 2022, online  
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  327. VE-ARiS – „Alberich“ – Machine-Learning-basierte Vorhersage der Kopierbarkeit von ASICs  
Florian Kögler, Digitale Fachkonferenz „Vertrauenswürdige Elektronik 2022“, 9. - 10. März 2022, online  
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  328. Echtzeitanalyse und Prognose des Wasserhaushalts im Weinbau  
Hannes Mollenhauer, Martin Schieck Silvia Krug Valentin Knitsch IM+io, Fachmagazin, März 2022, Heft 01, ISSN 1616-1017, Seite 32 - 35  
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  329. Messumgebung zur mixed-signal Echtzeit-Parametererfassung bei Lebensdauertests  
Michael Meister, Björn Bieske Ingo Gryl Dagmar Kirsten 34. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022), 27. Februar - 1. März 2022, Bremerhaven, Germany  
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  330. Intelligente Layoutverarbeitung: KI für ASIC- und PCB-Layouts  
Georg Gläser, Julian Kuners Elektronik, 03.2022, 9. Februar 2022, Seite 42 - 45, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2203D  
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