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  1101. HW/SW-Co-Entwurf einer intelligenten Sensor-Schnittstelle mit Hilfe eines schnellen, Zyklenzahl-genauen, RTL-nahen Befehlssatz-Simulators  
Gregor Nitsche, Eckhard Hennig Georg Gläser 15. Workshop Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen (MBMV), 2012, Kaiserslautern, 05.03.2012-07.03.2012  
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  1102. Hardware/Software Co-Design of a Smart Sensor Interface using a Fast but Accurate Close-to-RTL Instruction SetInterpreter  
Gregor Nitsche, Georg Gläser Eckhard Hennig 15. Workshop Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen. in Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung in Verifikation von Schaltungen und Systemen - MBMV 2012 (Hrsg: Jens Brandt und Klaus Schneider), Schriftenreihe Forschungsergebnisse zur Informatik, Band 68, Verlag Dr. Kovac, Hamburg, 2012, S. 121-132  
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  1103. Added-Value Services in Smart Home Applications through System Integration of Different Wireless Standards  
E. Chervakova, W. Kattanek U. Knoblich M. Binhack embedded world conference 2012. Nürnberg, Germany, 28.02.2012-01.03.2012  
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  1104. Added-Value Services in Smart Home Applications through System Integration of Different Wireless Standards  
E. Chervakova, W. Kattanek U. Knoblich M. Binhack embedded world conference 2012. Haar: Weka Fachmedien, ISBN 978-3-645-50072-2  
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  1106. Reichweitenmessung drahtloser Sensormodule als Basis energie-optimaler Netzwertopologien  
Sebastian Scheibe, Josepha Dargel Power and Energy Student Summit 2012, Ilmenau, Tagungsband, S. 14-17, urn:nbn:de:gbv:ilm1-2012200042  
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  1107. Reichweitenmessung drahtloser Sensormodule als Basis energie-optimaler Netzwertopologien  
Sebastian Scheibe, Josepha Dargel Power and Energy Student Summit 2012, Ilmenau.19.01.2012-20.01.2012  
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  1108. Mag6D  
Within the project a novel planar drive system was developed which is magnetically guided and moves objects with nanometer precision.  
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  1109. SMARTIEHS  
The newly developed measurement system can simultaneously inspect MEMS structures on wafer level to significantly reduce test effort.  
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  1110. RFID und NFC - Bindeglieder synchronisierter Welten  
W. Sinn, Dresden: 5. Dresdner RFID-Symposium, 09.12.2011  
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