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Patent DE 10 2013 113 378

Verfahren und elektronische Schaltung zum Bestimmen des Zeitpunkts eines Extremums einer sich zeitlich verändernden Kapazität

Verfahren zum Bestimmen des Zeitpunkts eines Extremums einer sich zeitlich verändernden Kapazität eines Kondensators (01), folgende Schritte umfassend: 

  • Vergleichen einer am Kondensator (01) anliegenden Spannung (VCAP) mit einem unteren Spannungswert (VM – ΔV) und einem oberen Spannungswert (VM + ΔV);
  • Umladen des Kondensators (01) auf einen mittleren Spannungswert (VM), der zwischen dem unteren Spannungswert (VM – ΔV) und dem oberen Spannungswert (VM + ΔV) liegt, wenn die am Kondensator (01) anliegende Spannung (VCAP) kleiner als der untere Spannungswert (VM – ΔV) oder größer als der obere Spannungswert (VM + ΔV) ist;
  • Wiederholen des Umladens des Kondensators (01), wenn die am Kondensator (01) anliegende Spannung (VCAP) erneut kleiner als der untere Spannungswert (VM – ΔV) oder erneut größer als der obere Spannungswert (VM + ΔV) geworden ist;
  • Feststellen eines Bezugszeitpunktes, in welchem die am Kondensator (01) anliegende Spannung (VCAP) den mittleren Spannungswert (VM) durchläuft;
  • und Bestimmen des Zeitpunktes des Extremums in Abhängigkeit vom festgestellten Bezugszeitpunkt.

Patent-Nr.:DE 10 2013 113 378

Erfinder:Benjamin Saft. Eric Schäfer

Anwendung:

Frontend Schaltung für elektrostatische Energie-Harvester| Kapazitive Lageerkennung

Forschungsfeld:Integrierte Sensorsysteme

erteiltes Patent

Anmeldetag:03.12.2013

Tag der Veröffentlichung:03.06.2015

Tag der Erteilung:26.01.2017


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Kontakt

Kontakt

Eric Schäfer, M. Sc.

Leiter Mikroelektronik und Institutsteil Erfurt

eric.schaefer(at)imms.de+49 (0) 361 663 25 35

Eric Schäfer und sein Team erforschen Integrierte Sensorsysteme und hier insbesondere CMOS-basierte Biosensoren, ULP-Sensorsysteme und KI-basierte Entwurfs- und Testautomatisierung. Die Ergebnisse fließen in die Forschung an den Leitthemen Sensorsysteme für die In-vitro-Diagnostik und RFID-Sensoren ein. Er unterstützt Sie mit Dienstleistungen rund um die Entwicklung integrierter Schaltungen und mit KI-basierten Methoden für komplexe IC-Entwürfe.


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