Annual Report 2020
ANNUAL REPORT 2020 2 >>Integrated sensor systems Lock-in imager ... 36 Machine Learning ... 43 „Trash or Treasure“ ... 49 >>Distributed measurement + test systems >>Mag6D nm direct drives Testing in the fast lane 55 Sensor platform ... 72 Nano lifting modules ... 84 > Contents * Funding Contents 61 Smart distributed measurement and test systems 3 Foreword 63 Highlights of 2020 in our research on smart 5 Strategic foci distributed measurement and test systems 7 Cooperation with Ilmenau TU 72 Scalable ultrasonic and volume flow sensor 9…
2020 Jahresbericht | Fachartikel IntelligEnt – Test (en/de): Testen auf der Überholspur – Machine Learning beschleunigt Messdaten-Analyse für ASICs um ein Vielfaches
Jahresbericht 2020 | IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH)
Themenüberblick: Lock-In-Imager für die zeitaufgelöste Fluoreszenzbildgebung mit Europium. Maschinelles Lernen zur automatisierten Modellierung im Chip-Entwurf. Trash or Treasure“ – Intelligente Layoutverarbeitung. Testen auf der Überholspur – Machine Learning beschleunigt Messdaten-Analyse für ASICs um ein Vielfaches. Skalierbare Ultraschall- und Volumenstrom-Sensorplattform für die Optimierung der Energieeffizienz.Nanometergenaue Hubmodule für die Präzisionsantriebstechnik.
