1196 results
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Parasitic Symmetry at a Glance: Uncovering Mixed-Signal Layout Constraints
Georg Gläser1. Benjamin Saft1. Ralf Sommer1.FAC 2017, Frontiers in Analog CAD, Frankfurt on the Main, Germany, 21-22 July 2017, pp. 1-6. URL: ieeexplore.ieee.org/document/8011279/1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. -
Parametric Measurement Unit und Pinelektronik für ein modulares Mixed Signal Testsystem
A. Rolapp1. R. Paris1.21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 86, 15. - 17. Februar 2009, Bremen1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Article -
Parametric Measurement Unit and Pin Electronics for modular Mixed Signal Test Systems
A. Rolapp1. R. Paris1.Chip, Packaging, Design, Simulation and Test - International Conference, Workshop and Table-top Exhibition 'Semiconductor Conference Dresden 2009' (SCD 2009), 29. - 30. April 2009, Dresden1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Talk -
Parameteridentifikation von MEMS auf Wafer-Level mittels dynamischer Messungen
S. Michael1. R. Paris2. S. Hering3.6. ITG/GI/GMM-Workshop Multi-Nature Systems: Entwicklung von Systemen mit elektronischen und nichtelektronischen Komponenten, Februar 2007, Erfurt1Melexis Erfurt GmbH. 2IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 3X-FAB AG.Talk -
Parameter Identification of Piezoelectric AlGaN/GaN Beam Resonators by Dynamic Measurements
St. Michael1. K. Brueckner2. F. Niebelschuetz2. K. Tonisch2. C. Schäffel1.10th EuroSimE 2009, 26.-28. April, Delft, Netherlands1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2TU Ilmenau, Institute of Micro- and Nanotechnologies.Article -
Parameter Identification of MEMS Membrane and Beam Structures by Modal Analysis and Dynamic Measurements
St. Michael1.ANSYS Conference & 27. CADFEM Users' Meeting, 18. - 20. November 2009, Leipzig1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Article -
Parameter Identification of Membrane Structures - Chances and Limitations
S. Michael1.SSI 2010 - MEMUNITY Workshop, 24.03.2010, Grenoble, France1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Talk -
Parameter extraction such as layer thickness and stress at wafer level for process monitoring in semiconductor manufacturing
.Microstructure User Meeting 2026, Symposium on optical vibration measurement, March 19, 2026, Waldbronn, Germany -
Out-of-Band Over-The-Air-Update for LoRaWAN-based Sensor Networks using BLE
Florian Jung1. Silvia Krug1,2. Tino Hutschenreuther1.2025 IEEE International Workshop on Metrology for Agriculture and Forestry (MetroAgriFor), October 28-30, 2025, Bologna, Italy1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany. 2Mid Sweden University, Sundsvall, Sweden. -
OPV und TIA-Optimierung mit WiCkeD
V. Boos1. St. Lange1.Workshop: 'Effizienzsteigerung und Ausbeuteverbesserung im analogen Schaltungsentwurf mit WiCkeD, 20.01.2004, Erfurt1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Talk