631. Methodology for Experimental Investigation of Matching and Aging Effects   B. Dimov, D. Nuernbergk A. Rolapp M. Meister E. Hennig Dresden: edaWorkshop 2011. 10.05. - 12.05.2011  

  632. Methoden der digitalen Entwicklungsstadienerkennung im Wein- und Obstbau   Silvia Krug, Martin Schieck Ergebniskonferenz der digitalen Experimentierfelder (Express), 4. September 2024, Berlin  

  633. Messwertgestützte Energieeffizienzoptimierung   F. Dinger, T. Hutschenreuther Erfurt: 4. Energieeffizienz-Workshop: 'Energieeffizienz durch Prozessoptimierung - Von der Analyse zu intelligenten Lösungen'. 07.07.2011  

  634. Messverfahren zur HF-Charakterisierung des Crosstalks verschiedener Halbleitertechnologien   Björn Bieske, Dagmar Kirsten Michael Ott Michael Frey 31. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2019), 24.-26. Februar 2019, Prien am Chiemsee  

  635. Messungen an elektrorheologischen Flüssigkeiten für die Dimensionierung von fluidischen Aktorarrays   P. Kornetzky, IMMS, Ilmenau, F&E Report, März 1998  

  636. Messung von Empfindlichkeitsprofilen an Fotodioden   M. Meister, 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006  

  637. Messung von Empfindlichkeitsprofilen an Fotodioden   M. Meister, 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006  

  638. Messumgebung zur mixed-signal Echtzeit-Parametererfassung bei Lebensdauertests   Michael Meister, Björn Bieske Ingo Gryl Dagmar Kirsten 34. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022), 27. Februar - 1. März 2022, Bremerhaven, Germany  

  639. Messumgebung zur dynamischen Charakterisierung des Leistungsverbrauchs von Ultra-Low-Power Schaltungen   Marco Reinhard, Alexander Rolapp Benjamin Saft Michael Meister 31. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2019), 24.-26. Februar 2019, Prien am Chiemsee  

  640. Messumgebung für Lebensdauertests basierend auf dem Konzept der universellen Test-Chips (UTC)   Björn Bieske, Ingo Gryl Pierre Wenke Martin Jäger Jörg Steinecke Xiao Liu 35. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2023), 26. - 28. Februar 2023, Erfurt, Germany