631. Messung von Empfindlichkeitsprofilen an Fotodioden   M. Meister, 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006  

  632. Messumgebung zur mixed-signal Echtzeit-Parametererfassung bei Lebensdauertests   Michael Meister, Björn Bieske Ingo Gryl Dagmar Kirsten 34. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022), 27. Februar - 1. März 2022, Bremerhaven, Germany  

  633. Messumgebung zur dynamischen Charakterisierung des Leistungsverbrauchs von Ultra-Low-Power Schaltungen   Marco Reinhard, Alexander Rolapp Benjamin Saft Michael Meister 31. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2019), 24.-26. Februar 2019, Prien am Chiemsee  

  634. Messumgebung für Lebensdauertests basierend auf dem Konzept der universellen Test-Chips (UTC)   Björn Bieske, Ingo Gryl Pierre Wenke Martin Jäger Jörg Steinecke Xiao Liu 35. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2023), 26. - 28. Februar 2023, Erfurt, Germany  

  635. Messtechnisch gestützte Beratung und Analyse des Kosteneinsparpotenzials   H. Töpfer, Gera: Enterprise Europe Network Thüringen- Unternehmerworkshop. 13.04.2011  

  636. MEMS2015 - Schaltplan-basierter Entwurf von MEMS für Anwendungen in Optik und Robotik   Volker Boos, Ralf Popp Mirco Meiners D. Meisel A. Müller in Newsletter edacentrum, 01/2013