2176 results
Reference
1723.
Charakterisierung, Optimierung und PEEC-Modellierung für einen Signalübertragungsabschnitt in Multi-Chip-Modulen
Reference
1724.
Charakterisierung von HF-Zellen verschiedener Technologien unter Nutzung modularer PXI-Testsysteme
Reference
1725.
Charakterisierung und Test von elektrostatischen Energieharvestern – Eine neue Schaltungstopologie für exaktere Messungen
Reference
1726.
Characterizing Dynamics of MEMS Devices on Wafer Level Using Optical Measurement Techniques