2182 results
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Das Parallelisieren von Motor- und Regelungsentwurf reduziert Entwicklungszeit und -kosten
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Erhöhung der Testqualität für optoelektrische Schaltungen durch Charakterisierung des Strahlprofils
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Entwurf und Einsatzerfahrungen eines flexibel konfigurierbaren PXI-Testsystems für on-wafer Messungen im Halbleiterbereich