1591. Testing of Ultra-sensitive materials for nanoelectromechanical systems - USENEMS   R. Grieseler, J. Klaus M. Stubenrauch K. Tonisch S. Michael J. Pezoldt P. Schaaf Lanzarote, Canary Islands, Spain: ECI Conference on Nanomechanical Testing in Materials Research and Development. (invited). 9.10.2011  

  1592. Testing symmetrical 2.4 GHz ZigBee Transceivers using unsymmetrical RF Measurement Equipment   B. Bieske, A. Rolapp 9th International Multi-Conference on Systems, Signals and Devices (SSD), 2012, Digital Object Identifier: 10.1109/SSD.2012.6197944, http://ieeexplore.ieee.org, IEEE Xplore Digital Library, E-ISBN 978-1-4673-1589-0  

  1593. Testing symmetrical 2.4 GHz ZigBee Transceivers using unsymmetrical RF Measurement Equipment   B. Bieske, A. Rolapp 9th International Multi-Conference on Systems, Signals and Devices (SSD), 2012, Chemnitz, 20.03.2012-23.3.2012  

  1594. Testmethodik für integrierte optoelektronische Schaltungen   K. Förster, Clustermeeting OptoNet e.V., 2.11.2006, Ilmenau  

  1595. Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen   D. Kirsten, A. Rolapp Dr. D. Nuernbergk 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth  

  1596. Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen   D. Kirsten, A. Rolapp Dr. D. Nuernbergk 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth  

  1597. Testmöglichkeiten auf Waferebene am IMMS   M. Meister, 49. Mikroelektronik-Seminar, 05.05.2010, Erfurt  

  1598. Testschaltung für MEMS-Inertialsensoren-Auswerte-ASIC   Roman Paris, Peter Kornetzky Jenny Klaus 28. GMM/GI/ITG Workshop – Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen, TuZ 2016, 06.03.2016 - 08.03.2016, Siegen, Germany  

  1599. Teststrategien für HF-ICs vom Labor zur Produktion   B. Bieske, P. Witzenhausen 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006  

  1600. Testsystem für die Charakerisierung analoger und digitaler Strukturen – Mixed-Signal-Analyse wird mobiltauglich   Tom Reinhold, Elektronik, 24.2024, 26. November 2024, Seite 70 - 73, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2424D