1531. Test mit Zukunft - Smart PXI   M. Konrad, K. Förster Ilmenau: wiss. Kolloquium zum 15-jährigen Bestehen des IMMS. 05.05.2011  

  1532. Test of differential 2.4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee ICs: Limits and Challenges   B. Bieske, M. Lange S. Beyer Semiconductor Conference Dresden 2008, 23.-24. April 2008, Dresden, Germany  

  1533. Test of differential 2.4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee ICs: Limits and Challenges   B. Bieske, M. Lange S. Beyer Semiconductor Conference Dresden 2008, 23.-24. April 2008, Dresden, Germany  

  1534. Test opto-elektronischer Schaltungen unter Verwendung von PXI-Testsystemen   M. Meister, A. Rolapp I. Gryl 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 81, 15. - 17. Februar 2009, Bremen  

  1535. Test und Charakterisierung von MEMS mittels dynamischer Messung am Beispiel von Membranstrukturen und Resonatoren   St. Michael, 4. Silicon Saxony Day, 12.-13. Mai 2009, Dresden  

  1536. Test von differentiellen 2,4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee™ ICs: Grenzen und Möglichkeiten   B. Bieske, M. Lange S. Beyer TuZ 2008, 20. Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 24.-26. Februar 2008, Wien  

  1537. Test von differentiellen 2,4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBeeTM ICs: Grenzen und Möglichkeiten   B. Bieske, M. Lange S. Beyer 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt  

  1538. Test von HF-Frontends für Navigationsanwendungen – Evaluierung von mehrkanaligen GNSS-Empfängern mit realen Satellitensignalen   Bjoern Bieske, Kurt Blau 30. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2018), 4.-6. März 2018, Freiburg im Breisgau, Germany  

  1539. Test von HF-Multiplexern für hohe Spannungen, Entwicklung einer Testmethodik für Schalter bis 100 V und 100 MHz   Björn Bieske, Michael Meister Dagmar Kirsten Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TUZ 2015), 01.03.2015 - 03.03.2015, Bad Urach  

  1540. Test von HF-Zellen - Auf Basis modularer PXI-Testsysteme   Björn Bieske, Klaus Heinrich Elektronik Industrie. S.62-64. 5.2012. www.elektronik-industrie.de