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Event
  1301. RIS3  
 
Reference
  1302. INSPECT – Mikroelektronische Diagnostikplattformen für die personalisierte Krebsforschung und Mikro-Bioreaktoren  
Autorenkollektiv, RIS3 Jahresveranstaltung, Session 3, Innovationsfelder „IKT, innovative und produktionsnahe Dienstleistungen“ und „Gesundes Leben und Gesundheitswirtschaft“ 28. September 2017, Erfurt  
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  1303. Anknüpfungspunkte für das Clusterforschungsprojekt ANCONA – Ideen der Projektpartner zur Überführung in die industrielle Anwendung  
Georg Gläser, Andreas Fürtig Markus Olbrich Gregor Nitsche Fabian Speicher Christoph Grimm Newsletter edacentrum 01/02 2017, 2. Dezember 2017  
Event
  1304. edaBarCamp -- the next generation!  
Originating from our PhD meetings in a german research project, we gained the idea of starting an open research meeting based on the barcamp-concept.  
Reference
  1306. Testing Electrostatic Energy Harvesters: A New Topology for Accurate Characterization  
Björn Bieske, Gerrit Kropp Alexander Rolapp 2017 14th International Multi-Conference on Systems, Signals & Devices (SSD), Marrakech, Morocco, 28-31 March 2017, pp. 331-336. DOI: http://doi.org/10.1109/SSD.2017.8166930  
Reference
  1307. AgAVE  
Industry 4.0 communications for an assistance system, ML-based, that autonomously analyses connected production chains  
Reference
  1308. Wie Mikroelektronik dabei hilft, Krebs im Frühstadium zu erkennen (Kopie 1)  
Alexander Hofmann, Michael Meister Friedrich Scholz Balázs Németh Susette Germer Hendrik Härter Elektronikpraxis, Fachwissen für Elektronik Professionals, online: https://www.elektronikpraxis.vogel.de/wie-mikroelektronik-dabei-hilft-krebs-im-fruehstadium-zu-erkennen-a-673280/  
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  1309. High-Precision Mixed-Signal Sensor Interface for a Wide Temperature Range [0° – 300°C]  
Georg Gläser, Dagmar Kirsten André Richter Marco Reinhard Gerrit Kropp Dirk M. Nuernbergk Journal of Microelectronics and Electronic Packaging, January 2018, Vol. 15, No. 1, pp. 1-8, DOI: https://doi.org/10.4071/imaps.523847  
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  1310. High Voltage RF-Multiplexer for medical Applications – Development of a Test Environment up to 100 V and 100 MHz  
Bjoern Bieske, Dagmar Kirsten tm - Technisches Messen, 85(5), pp. 302-311, DOI: https://doi.org/10.1515/teme-2017-0117  
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