Publications overview –DienstleistungenTest and characterisation
Testsystem für die Charakerisierung analoger und digitaler Strukturen – Mixed-Signal-Analyse wird mobiltauglich
Tom Reinhold1.Elektronik, 24.2024, 26. November 2024, Seite 70 - 73, ePaper: wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany.Einstieg in die HF-(Mess-)Technik
Björn Bieske1.HAM Radio, Internationale Amateurfunk-Ausstellung, 28. - 30. Juni 2024, Friedrichshafen, Germany
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany.Validierung KI-basierter Simulationsmethoden im Chip-Entwurf, Testbench in Hardware
Tom Reinhold1.Elektronik, 25.2023, 29. November 2023, Seite 60 - 64, ePaper: wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany.LO and Calibration Signal Distribution in a Multi-Antenna Satellite Navigation Receiver
Uwe Stehr1. Syed N. Hasnain1. Björn Bieske2. Marius Brachvogel3. Michael Meurer3,4. Matthias A. Hein1.in Proceedings of the European Navigation Conference 2023, Noordwijk, Zuid-Holland, May 31 - June 2, 2023, Eng. Proc. 2023, 54, 23. DOI: doi.org/10.3390/ENC2023-15447
1Thuringian Center of Innovation in Mobility, RF & Microwave Research Group, Technische Universität Ilmenau, Ilmenau, Germany. 2IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany. 3Chair of Navigation, RWTH Aachen University, Aachen, Germany. 4Institute of Communications and Navigation, German Aerospace Center (DLR), Oberpfaffenhofen, Germany.Messumgebung für Lebensdauertests basierend auf dem Konzept der universellen Test-Chips (UTC)
Björn Bieske1. Ingo Gryl1. Pierre Wenke2. Martin Jäger3. Jörg Steinecke2. Xiao Liu2.35. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2023), 26. - 28. Februar 2023, Erfurt, Germany
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. 2X-FAB Semiconductor Foundries GmbH, Erfurt, Germany. 3X-FAB Global Services GmbH, Erfurt, Germany.Messumgebung zur mixed-signal Echtzeit-Parametererfassung bei Lebensdauertests
Michael Meister1. Björn Bieske1. Ingo Gryl1. Dagmar Kirsten2.34. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022), 27. Februar - 1. März 2022, Bremerhaven, Germany
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. 2X-FAB Global Services GmbH, Germany.Modular hardware and software platform for the rapid implementation of asic-based bioanalytical test systems
Alexander Hofmann1. Peggy Reich1. Marco Götze1. Alexander Rolapp1. Sebastian Uziel1. Thomas Elste1. Bianca Leistritz1. Wolfram Kattanek1. Björn Bieske1.2021 Design, Automation & Test in Europe (DATE), 01 - 05 February 2021, University Booth, past.date-conference.com/proceedings-archive/2021/html/date2021-uni-booth-pro.pdf, Virtual Conference
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany.A modular application specific active test environment for high-temperature wafertest up to 300 °C
Michael Meister1. Marco Reimard1.International Conference and Exhibition on High Temperature Electronics Network (HiTEN 2019), 8 - 10 July 2019, St. Anne’s College in the University of Oxford, Oxford, United Kingdom, DOI: doi.org/10.4071/2380-4491.2019.HiTen.000122
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany.Modular Desktop Platform for High-Temperature Characterization and Test up to 300°C
Tom Reinold1. Björn Bieske1. Georg Gläser1. Michael Meister1.International Conference and Exhibition on High Temperature Electronics Network (HiTEN 2019), 8 -10 July 2019, St. Anne’s College in the University of Oxford, Oxford, United Kingdom, DOI: doi.org/10.4071/2380-4491.2019.HiTen.000117
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany.Modulare Sensor-Testplattform für Hochtemperaturanwendungen bis 300 °C
Björn Bieske1. Tom Reinhold1. Marco Reinhard1.20. GMA/ITG Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2019, 25. - 26. Juni 2019, Nürnberg
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany.Messverfahren zur HF-Charakterisierung des Crosstalks verschiedener Halbleitertechnologien
Björn Bieske1. Dagmar Kirsten2. Michael Ott3. Michael Frey3.31. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2019), 24.-26. Februar 2019, Prien am Chiemsee
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. 2X-FAB Semiconductor Foundries AG, Erfurt, Germany. 3Melexis GmbH, Germany.TSN – ein neuer Vernetzungsstandard für Industrie 4.0
Thomas Elste1. Ralf Sommer1.edaWorkshop 2018, 16.-17. Mai 2018, Hannover
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany.