Current Publication
Machine-Learning-basierte Messdatenanalyse für ASICs. Testen auf der Überholspur
Tom Reinhold1, Georg Gläser1
Elektronik, 01/02.2022, , pp. 46-48, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/
1IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany
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The IMMS researched assistance systems for chip designers: Machine Learning improves design and test methods for integrated analogue/mixed-signal systems.
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