Aktuelle Publikation
Machine-Learning-basierte Messdatenanalyse für ASICs. Testen auf der Überholspur
Tom Reinhold1, Georg Gläser1
Elektronik, 01/02.2022, , Seite 46-48, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/
1IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany
Zugehörige Inhalte
Projekt
IntelligEnt
Das IMMS forschte an Assistenzsystemen für Chip-Designer: Machine Learning verbessert Entwurfs- und Testmethoden für integrierte Analog/Mixed-Signal-Systeme.
Auszeichnung