Machine-Learning-basierte Messdatenanalyse für ASICs. Testen auf der Überholspur

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Machine-Learning-basierte Messdatenanalyse für ASICs. Testen auf der Überholspur

Tom Reinhold¹. Georg Gläser¹.

Elektronik, 01/02.2022, 26. Januar 2022, Seite 46 - 48, ePaper: wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE

¹IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany.

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