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PXI - basierte Testplattformen für die Halbleiterindustrie
K. Förster1.9. ATE - Technologietag, 1. April 2009, Radolfzell1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Talk -
In-Network Detection of Anomaly Regions in Sensor Networks with Obstacles
C. Franke1. M. Karnstedt2. D. Klan2. M. Gertz3. K. -U. Sattler2. E. Chervakova4.Computer Science - Research and Development, Special issue 'BTW 2009 Best Papers”, Volume 24, Number 3, ISSN 1865-2034, Springer, 20091Department of Computer Science, University of California, Davis, USA. 2Databases and Information Systems Group, Ilmenau University of Technology, Germany. 3Institute of Computer Science, University of Heidelberg, Germany. 4IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Article -
EEPROM-Speicherzelle und ihr Auswahltransistor
St. Richter2. D. Nuernbergk1. S. Richter1. D. Kirsten1.Patentnr. 10 2004 011 8581IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2X-FAB AG.Article -
Drahtlose Sensor-Aktor-Netzwerke
T. Rossbach1. E. Chervakova1.Bericht zum Projekt CBS - Costumer Bautronic Systems, Arbeitsgruppe 3, Nutzerintegrierte operative Gebäudesteuerung FKZ BMBF-03WKBD3C, CeBit 2009, 2. März 2009, Hannover1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Talk -
In-Network Detection of Anomaly Regions in Sensor Networks with Obstacles
C. Franke1. M. Karnstedt2. D. Klan2. M. Gertz3. K. -U. Sattler2. W. Kattanek4.13. GI-Fachtagung Datenbanksysteme für Business, Technologie und Web, 2.- 6.März 2009, Münster1Department of Computer Science, University of California, Davis, USA. 2Databases and Information Systems Group, Ilmenau University of Technology, Germany. 3Institute of Computer Science, University of Heidelberg, Germany. 4IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Article -
Test opto-elektronischer Schaltungen unter Verwendung von PXI-Testsystemen
M. Meister1. A. Rolapp1. I. Gryl1.21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 81, 15. - 17. Februar 2009, Bremen1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Article -
Test differentieller Parameter von HF-Komponenten im GHz-Bereich
B. Bieske1.21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 35, 15. - 17. Februar 2009, Bremen1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Article -
Parametric Measurement Unit und Pinelektronik für ein modulares Mixed Signal Testsystem
A. Rolapp1. R. Paris1.21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 86, 15. - 17. Februar 2009, Bremen1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Article -
Einsatz eines Modularen Test-Systems für Mixed Signal Tests
I. Gryl1. V. Schulze1.21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 129, 15. - 17. Februar 2009, Bremen1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Poster presentation -
Nanopositioniersysteme großer Bewegungsbereiche
St. Hesse1. C. Schäffel1.DFG Begutachtung, SFB 622 'Nanopositionier- und Nanomesssysteme', Teilprojekt A5, Forschungsziele 2009-2013, 11.02.-12.02.2009, Technische Universität Ilmenau1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Poster presentation