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1591. Parameter Identification of MEMS Membrane and Beam Structures by Modal Analysis and Dynamic Measurements

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1592. Parameter Identification of Piezoelectric AlGaN/GaN Beam Resonators by Dynamic Measurements

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1593. Parameteridentifikation von MEMS auf Wafer-Level mittels dynamischer Messungen

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1594. Parametric Measurement Unit and Pin Electronics for modular Mixed Signal Test Systems

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1595. Parametric Measurement Unit und Pinelektronik für ein modulares Mixed Signal Testsystem

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1596. Parasitic Symmetry at a Glance: Uncovering Mixed-Signal Layout Constraints

Georg Gläser, Benjamin Saft, Ralf Sommer, Frankfurt on the Main, Germany 2017 FAC 2017, Frontiers in Analog CAD

Über uns

1597. Partner

Viele Partner aus F&E-Projekten nutzen auch unsere Dienstleistungen und einige binden wir als innovative, zertifizierte Fertigungspartner ein, um die Wertschöpfungskette bis zur Serie abzudecken. Foto (Belichtungsmaske in der Halbleiterfertigung): X-FAB.

Partner: Wir binden innovative, zertifizierte Fertigungspartner ein, um in F&E-Projekten die Wertschöpfungskette abzudecken. Zudem finden Sie hier einen Überblick zu unseren Projektpartnern aus Wissenschaft und Industrie und Infos, wie Sie Partner werden können.

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1598. Passive 350 GHz Video Imaging Systems for Security Apllications

E. Heinz, T. May, D. Born, G. Zieger, S. Anders, V. Zakosarenko, H.-G. Meyer, Christoph Schäffel, 2015 Journal of Infrared, Millimeter and Terahertz Waves

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1599. Patente

Foto: Matt Ridley, Unsplash / Bearbeitung: IMMS.

Patente: Hier finden Sie offengelegte Patentanmeldungen und erteilte Patente, für die das IMMS Inhaber bzw. Mitinhaber ist.

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1600. Perforated plates of inertial sensors – modeling by effective material properties

Steffen Michael, Astrid Frank, G. Hölzer, G. Lorenz, 2014 Procedia Engineering, EUROSENSORS 2014, the 28th European Conference on Solid-State Transducers