Aktuelle Publikation
Parametric Measurement Unit und Pinelektronik für ein modulares Mixed Signal Testsystem
A. Rolapp1.
R. Paris1.
21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 86, 15. - 17. Februar 2009, Bremen
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.
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