Wissenschaftliche Publikationen
Hier finden Sie alle Veröffentlichungen des IMMS seit 1997: begutachtete Konferenz-Paper / Journal-Beiträge, Fachartikel in Zeitschriften, Vorträge und Posterpräsentationen.
1163 Ergebnisse
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Mechatronik - eine interdisziplinäre Herausforderung
G. Scarbata1.EUROFORUM, Fachkonferenz für die Automobilindustrie, 15.04.-16.04.031IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag -
Meeting ASEDA Projekt - ANASTASIA - WP3.1
St. Lange1.München, Juli 20011IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag -
Meeting ASEDA Projekt ANASTASIA - WP2
R. Kindt1.Meylan, Juni 20011IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag -
Mehr Transparenz in der Produktion und in Prozessen durch nachrüstbare Sensorik
Jörg Weber1.Jenaer Technologietag, Digitale Arbeitswelten, Workshop zu Technologie, 31. Januar 2018, Ernst-Abbe-Hochschule, Jena1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. -
MEMS2015 - Schaltplan-basierter Entwurf von MEMS für Anwendungen in Optik und Robotik
Volker Boos1. Ralf Popp2. Mirco Meiners3. D. Meisel3. A. Müller4.in Newsletter edacentrum, 01/20131IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2edacentrum GmbH Hannover. 3Robert Bosch GmbH Stuttgart. 4X-FAB Semiconductor Foundries AG Erfurt.Fachartikel MEMS2015 -
Messtechnisch gestützte Beratung und Analyse des Kosteneinsparpotenzials
H. Töpfer1,2.Gera: Enterprise Europe Network Thüringen- Unternehmerworkshop. 13.04.20111IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2Technische Universität Ilmenau, Fachgebiet Theoretische Elektrotechnik, Germany.Vortrag -
Messumgebung für Lebensdauertests basierend auf dem Konzept der universellen Test-Chips (UTC)
Björn Bieske1. Ingo Gryl1. Pierre Wenke2. Martin Jäger3. Jörg Steinecke2. Xiao Liu2.35. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2023), 26. - 28. Februar 2023, Erfurt, Germany1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. 2X-FAB Semiconductor Foundries GmbH, Erfurt, Germany. 3X-FAB Global Services GmbH, Erfurt, Germany. -
Messumgebung zur dynamischen Charakterisierung des Leistungsverbrauchs von Ultra-Low-Power Schaltungen
Marco Reinhard1. Alexander Rolapp1. Benjamin Saft1. Michael Meister1.31. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2019), 24.-26. Februar 2019, Prien am Chiemsee1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. -
Messumgebung zur mixed-signal Echtzeit-Parametererfassung bei Lebensdauertests
Michael Meister1. Björn Bieske1. Ingo Gryl1. Dagmar Kirsten2.34. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022), 27. Februar - 1. März 2022, Bremerhaven, Germany1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. 2X-FAB Global Services GmbH, Germany. -
Messung von Empfindlichkeitsprofilen an Fotodioden
M. Meister1.18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.20061IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag