Wissenschaftliche Publikationen
Hier finden Sie alle Veröffentlichungen des IMMS seit 1997: begutachtete Konferenz-Paper / Journal-Beiträge, Fachartikel in Zeitschriften, Vorträge und Posterpräsentationen.
1158 Ergebnisse
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Entwurf eines PDICs für 12fach Blu-ray Disc Schreib- und Leselaufwerke
S. Lange1. H. Pleß1. Dr. E. Hennig1.12. Workshop Analogschaltungen, 11.03.-12.03.2010, Ulm1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag TAB DVD Fotodiode -
Entwurf eines PDICs für 12fach Blu-ray Disc Schreib- und Leselaufwerke
S. Lange1.45. Mikroelektronik-Seminar, 09.03.2010, Erfurt1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag -
From SystemC to Real Hardware
K. Agla1.Date 2010 - Design, Automation & Test in Europe, 08.03.-12.03.2010, Dresden1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Posterpräsentation -
Mobile Audio Dosimeter for the prevention of noise-induced hearing impairment
T. Elste1.Embedded World Conference, 03.03.2010, Nürnberg1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag -
Mobile Audio Dosimeter for the prevention of noise-induced hearing impairments
T. Elste1. M. Sachs1.in Proceedings Embedded World 2010, 02.03.-04.03.2010, Nürnberg1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Fachartikel -
Das Parallelisieren von Motor- und Regelungsentwurf reduziert Entwicklungszeit und -kosten
Dr. Ch. Schäffel1. M. Katzschmann1.Erschienen in MSR-Magazin, Automatisierungstechnik für Fertigung und Prozess, 03/20101IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Fachartikel SMARTIEHS -
Charakterisierung von HF-Zellen verschiedener Technologien unter Nutzung modularer PXI-Testsysteme
B. Bieske1. K. Gille2.22nd ITG/GI/GMM Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2X-FAB Semiconductor Foundries AG, Erfurt.Vortrag -
Entwurf und Einsatzerfahrungen eines flexibel konfigurierbaren PXI Testsystems für on-wafer Messungen im Halbleiterbereich
I. Gryl1. G. Kropp1. R. Paris1.22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag -
Entwurf und Einsatzerfahrungen eines flexibel konfigurierbaren PXI-Testsystems für on-wafer Messungen im Halbleiterbereich
I. Gryl1. G. Kropp1. R. Paris1.22nd ITG/GI/GMM Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Posterpräsentation -
Erhöhung der Testqualität für optoelektrische Schaltungen durch Charakterisierung des Strahlprofils
M. Reinhard1. M. Meister1. U. Liebold1. T. Cohrs1. Dr. D. Nuernbergk1.22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag TAB DVD Fotodiode