Wissenschaftliche Publikationen
Hier finden Sie alle Veröffentlichungen des IMMS seit 1997: begutachtete Konferenz-Paper / Journal-Beiträge, Fachartikel in Zeitschriften, Vorträge und Posterpräsentationen.
1226 Ergebnisse
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Intelligente Lösungen für Industrie 4.0 - Diagnose und Überwachung in industriellen Anlagen
Tino Hutschenreuther12. Maschinenbautag, , Erfurt1IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany -
Tri-Gate Al0.2Ga0.8N/AlN/GaN HEMTs on SiC/Si-substrates
Wael Jatal1, Uwe Baumann2, Heiko O. Jacobs1, Frank Schwierz3, Jörg Pezoldt1in Materials Science Forum, vol. 858, May 2016, pp. 1174-1177, 2016, DOI: doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.858.11741Technische Universität Ilmenau, Institut für Mikro- und Nanotechnologien (IMN) MacroNano®, Fachgebiet Nanotechnologie, 98684 Ilmenau, P.O. Box 10 05 65, Germany, 2IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany, 3Technische Universität Ilmenau, Institut für Mikro- und Nanotechnologien (IMN) MacroNano® und Institut für Mikro- und Nanoelektronik and Institut für Mikro- und Nanoelektronik, Fachgebiet Festkörperelektronik, 98684 Ilmenau, P.O. Box 10 05 65, Germany -
Investigations of metal systems in a silicon ceramic composite substrate for electrical and thermal contacts as well as associated mounting aspects
Michael Fischer1, T. Welker1, Bianca Leistritz2, Christoph Schäffel2, Martin Hoffmann1, Jens Müller1Ceramic Interconnect and Ceramic Microsystems Technologies, Additional Conferences (Device Packaging, HiTEC, HiTEN, & CICMT), , Denver, Colorado, USA, pp. 000107-000110, DOI: dx.doi.org/10.4071/2016CICMT-WA221Technical University of Ilmenau, Institute for Micro- and Nanotechnologies (IMN) MacroNano®, 98684 Ilmenau, P.O. Box 10 05 65, Germany, 2IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany -
Adaptive Wireless Ad-hoc Sensor Networks for Long-term and Event-oriented Environmental Monitoring
Jan Bumberger1, Hannes Mollenhauer1, Paul Remmler1, Andrei Marian Chirila1, Olaf Mollenhauer2, Tino Hutschenreuther3, Hannes Toepfer4, Peter Dietrich1,5European Geosciences Union General Assembly, EGU 2016, Open Session on Geosciences Instrumentation and Methods, , Vienna, Austria1Helmholtz-Zentrum für Umweltforschung GmbH - UFZ, Department Monitoring- und Erkundungstechnologien, Permoserstraße 15, 4318 Leipzig, Germany, 2TETRA Gesellschaft für Sensorik, Robotik und Automation mbH, 98693 Ilmenau, Germany, 3IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany, 4Technische Universität Ilmenau, Department of Electrical Engineering and Information Technology, Institute for Information Technology, Advanced Electromagnetics Group, 98684 Ilmenau, P.O. Box 10 05 65, Germany, 5Eberhard Karls University, Centre of Applied Geosciences, Geschwister-Scholl-Platz, 72074 Tübingen, Germany -
Embedded tutorial: Analog-/mixed-signal verification methods for AMS coverage analysis
Erich Barke1, Georg Gläser2, Hyun-Sek Lukas Lee1, Markus Olbrich1, Andreas Fürtig3, Lars Hedrich3, Carna Radojicic4, Christoph Grimm4, Fabian Speicher5, Stefan Heinen5, Gregor Nitsche6, Eckhard Hennig7, Wolfgang Nebel8,62016 Design, Automation & Test in Europe (DATE), , Dresden, Germany, pp. 1102-1111, https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7459473&isnumber=74592691Leibniz Universität Hannover, Institute of Microelectronic Systems, Appelstraße 4, 30167 Hannover, Germany, 2IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany, 3Goethe Universität Frankfurt a. M., Institute for Computer Science, Robert-Mayer-Str. 11-15, 60325 Frankfurt am Main, Germany, 4Kaiserslautern University of Technology, Design of Cyber-Physical Systems, Paul-Ehrlich-Straße, 67663 Kaiserslautern, Germany, 5RWTH Aachen University, Chair of Integrated Analog Circuits, Templergraben 55, 52062 Aachen, Germany, 6OFFIS e.V. Institut für Informatik, Escherweg 2, 26121 Oldenburg, Germany, 7Reutlingen University, Alteburgstraße 150, 72762 Reutlingen, Germany, 8Carl von Ossietzky Universität Oldenburg, Ammerländer Heerstraße 114-118, 26129 Oldenburg, Germany -
Identification of Critical Scenarios in AMS Verification: Methodology for Finding the Safe Operating Area of AMS Systems
Georg Gläser1, Hyun-Sek Lukas Lee2, Markus Olbrich2, Eckhard Hennig32016 Design, Automation & Test in Europe (DATE), University Booth, Embedded Tutorial: Analog-/Mixed-Signal Verification Methods for AMS Coverage Analysis, , Dresden, Germany1IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany, 2Leibniz Universität Hannover, Institute of Microelectronic Systems, Appelstraße 4, 30167 Hannover, Germany, 3Reutlingen University, Alteburgstraße 150, 72762 Reutlingen, Germany -
Hörbarmachung von Ultraschallsignalen
Peter Holstein1, Nicki Bader1, Andreas Tharandt1, R. John1, Sebastian Uziel2, D. Januszko2,3, Tino Hutschenreuther2Fortschritte der Akustik - DAGA 2016, 42. Jahrestagung für Akustik, , Aachen, Germany1SONOTEC GmbH, Thüringer Straße 33, 6112 Halle, Germany, 2IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany, 3Technische Universität Ilmenau, Fakultät Elektrotechnik und Informationstechnik, 98684 Ilmenau, P.O. Box 10 05 65, Germany -
Nanopositioning and nanomeasuring technology - following the challenges of nanofabrication
Eberhard Manske1, Tino Hausotte1, Roland Füßl1, Thomas Fröhlich1, Martin Hofmann1, Ivo W Rangelow1, Johann Reger1, Christoph Schäffel2, Stefan Sinzinger1, René Theska111th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 7th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods, Dimensional and related measurements in the micro- and nanometre range, , Wroclaw, Poland1Technische Universität Ilmenau, Department of Mechanical Engineering, Competence Centre „Nanopositioning and Nanomeasuring Machines“, 98684 Ilmenau, P.O. Box 10 05 65, Germany, 2IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany -
Testschaltung für MEMS-Inertialsensoren-Auswerte-ASIC
Roman Paris1, Peter Kornetzky1, Jenny Klaus128. GMM/GI/ITG Workshop – Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen (TuZ 2016), , Siegen, Germany1IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany -
Hochtemperatur-Wafertest bis 300°C
Marco Reinhard1, Ulrich Liebold1, André Richter1, Ingo Gryl128. GMM/GI/ITG Workshop – Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen (TuZ 2016), , Siegen, Germany1IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany